- 混流调度的混合整数规划模型 2017/12/5 20:49:34 2017/12/5 20:49:34
- 根据集束型装备每个生产周期内加工的晶圆种类,调度问题可分为单流集束型装备调度问题和混流集束型装备调度问题。单流集束型装备是指每个生产周期内只有一种类型的晶圆进入和离开集束型装备。NCP1252A...[全文]
- 机械手在搬运晶圆过程中,还具有以下特点2017/12/5 20:47:46 2017/12/5 20:47:46
- 另外,机械手在搬运晶圆过程中,还具有以下特点。(1)机械手每隔一个生产周期重复一组相同的机械手活动序列,每个周期中仅有一个晶圆进入,NCP1230D65R2G并且有一个晶圆离开装备...[全文]
- 集束型晶圆制造装备的重入刮混流调度 2017/12/5 20:42:11 2017/12/5 20:42:11
- 在集束型装备中,机械手NCN6001DTBR2G作为搬运设备被所有加I模块所共享,因此对其活动的合理规划和调度成为影响系统效率的关键。晶圆流模式决定了集束型装备制造过程的复杂程度,早期集束型装备...[全文]
- 量子进化算法2017/12/4 20:26:54 2017/12/4 20:26:54
- 量子进化算法是量子计算与进化计算相融合的产物,它利用量子理论中有关量子态的叠加和纠缠等特性,P4SMA150CA通过量子旋转门“量子交叉、量子变异”等操作来实现个体的变异和种群的进...[全文]
- 事件的触发与机械手的控制2017/11/29 21:59:05 2017/11/29 21:59:05
- Pla11t⒏mul缸on的对象包括属性和事件,属性是指对象的特性,事件是指系统的状态在满足触发条件下发生的变化。对于一般的生产流程来说,通过PlantSimul肘ion中传统的连线方式便可使仿...[全文]
- 时序图模型基础理论 2017/11/27 21:36:16 2017/11/27 21:36:16
- 时序图是一种用于描述集束型装备的加工模块和机械手使用情况的甘特图。时序图R060047300内在思想简单,即以图示的方式通过活动列表和时间刻度,形象地表示任何特定项目的活动顺序与持续时间。时序图...[全文]
- 集束型装备数学规划建模过程 2017/11/27 21:32:50 2017/11/27 21:32:50
- 具有混流的多集束型装备调度问题可描述为:晶圆按照不同的晶圆流从输入装载室进入系统,R05N05依次经过各加I模块、连接相邻集束型装备的缓冲模块,最终加I完成后存放在输...[全文]
- 多机械手调度2017/11/26 14:43:41 2017/11/26 14:43:41
- 多机械手调度在不同文献中叉称为多集束型装备调度、集束型设备群调度或多组合设备调度。A915BY-680M多集束型装备具有以下独特的复杂因素。(1)相邻集束型装备之间的耦合依赖。...[全文]
- 软件资源2017/11/26 14:38:06 2017/11/26 14:38:06
- (1)工艺流程文件。有两种方式记录半导体工艺流程文件,一是纸质文件,二是装备的电子文档。工艺流程文件描述了晶圆从进入集束型装备中所有的设备、程序等信息,是加I过程中必须遵守的规则。A915BY-...[全文]
- 机器人制造单元主要针对一个单臂机械手的调度2017/11/25 19:37:20 2017/11/25 19:37:20
- (1)机器人制造单元主要针对一个单臂机械手的调度。该调度的目标是在一定目标函数下优化产品的加工顺序及机械手搬运作业顺序。TSM0A103F34D3RZ(2)研究对象多为单一工件类型...[全文]
- 贴片(Die Attach)2017/11/22 21:22:13 2017/11/22 21:22:13
- 贴片(DieAttach)OB2532A将芯片颗粒由划片后的蓝膜上分别取下,用胶水(epoxy)与支架(leadframc,引线筐架)贴合在一起,以便于下一个打线键合的△艺。胶水中...[全文]
- 冗余设计与激光修复2017/11/21 21:51:26 2017/11/21 21:51:26
- 冗余设汁(redundancy),为了提升生产良率,储存器设计有冗余单元(rcdundantcclls),nr以替换部分失效的单元。TDA10023HT/C1当测试程序发现有失效的单元时,会记录...[全文]
- 测试程序2017/11/21 21:37:42 2017/11/21 21:37:42
- 测试程序对待测元件做电性测试规划,包含:(l)定义测试项目,项目顺序流程、频率、TC74VHC138FT电压、电流、波形、矢量(vector)、图形(pattcrn)、测试标准(t...[全文]
- 测试程序2017/11/21 21:37:40 2017/11/21 21:37:40
- 测试程序对待测元件做电性测试规划,包含:(l)定义测试项目,项目顺序流程、频率、TC74VHC138FT电压、电流、波形、矢量(vector)、图形(pattcrn)、测试标准(t...[全文]
- 测试硬件2017/11/21 21:36:11 2017/11/21 21:36:11
- 白动测试设备可以根据测试软件的规划对待测元件(DeviceUnderTcst,F)UT)做电性测试。TC74VHC138FN一套白动测试设备主要包含主机(mainfraΠ1c),测试头(tcst...[全文]
- 测试硬件2017/11/21 21:36:08 2017/11/21 21:36:08
- 白动测试设备可以根据测试软件的规划对待测元件(DeviceUnderTcst,F)UT)做电性测试。TC74VHC138FN一套白动测试设备主要包含主机(mainfraΠ1c),测试头(tcst...[全文]
- NBTI模型2017/11/17 21:51:04 2017/11/17 21:51:04
- 近年来人们对NBTI做了大量的研究,并提出几种模型来解释观察到的现象。普遍接U2008B-MY受的模型是RD模型(reactiondiffusionmodel)。该模型认为,加在栅极的负偏压在S...[全文]
- SI-CCD是商用PEM系统传统的微光探头2017/11/14 20:43:56 2017/11/14 20:43:56
- SI-CCD是商用PEM系统传统的微光探头,工作原理是Si的光子吸收作用,同光的透明性是互补效应。PI74FCT2573TS由于硅对红外、近红外波段的透明性,S卜CCD探头本身并不适合背面分析,...[全文]
- 广泛用于静电损伤失效2017/11/14 20:38:34 2017/11/14 20:38:34
- 液晶定位技术是O.35um及以L制程十分有效的失效定位手法,广泛用于静电损伤失效(clectrostaticdischargefailures)、栅氧化层与时间相关的介质击穿(TDI)B)、PC...[全文]
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