冗余设汁(redundancy),为了提升生产良率,储存器设计有冗余单元(rcdundant cclls),nr以替换部分失效的单元。 TDA10023HT/C1当测试程序发现有失效的单元时,会记录所有失效的单元地址。在测试结束时.冗余分析子程序会判断此芯片是不是可以修复成为无缺陷的芯片。如果。T以修复,修复的地址会被记录,并输出给修复设备。对于缺陷太多而无法完全修复的芯片,即判定为废品。

   芯片的冗余设计由冗余单元行/列和地址解码器组成。激光修复(laser repair,I'/R)机台会把需要修复的解码器设定为被测试到的缺陷地址。例如,假设缺陷地址是X=511行,就将冗余行地址解码器设定成X=511。所以,当外部读写输人地址勹冗余解码器相同时,芯片就会渎写冗余单元的数据・而不是主储存阵列的数据。冗余解码器是由多晶硅或铝线构成的保险丝阵列(poly/al fuse array)组成的.由激光熔断相对应地址的保险丝组合・完哎解码设定:新的保险丝设计已采用电流保险丝(cfusc),熔断的方法是利用电迁移效应。