白动测试设备可以根据测试软件的规划对待测元件(Device Under Tcst,F)UT)做电性测试。TC74VHC138FN一套白动测试设备主要包含主机(mainfraΠ1c),测试头(tcst hcad)。分类机或针测机(handler or prol)er)以及电脑服务器(computer scrver)。此外.还有各的负载板(load b°ard)和针测板(prbe card)。

   半导体元件的速度越来越快,功能越来越复杂,意味着需要更先进的白动测试设备.吏长的测试时间,测试成本也越来越贵。一套数GHz,数千管脚的测试设备价值数百万美元。为减低测试成本,囚此发展了各种可测性设计技术。透过可测性没计.冖∫以降低测试频率、减少管脚、降低机台性能的要求,同时也降低测试复杂度,减短测试时间。

   分类机(handlcr)和圆片针测机(wafer prol)er)有两大主要功能.第一是提供芯片试机台接触的接凵,第二是作为芯片测试结果好坏、优劣分类的机器设备。分类机处理封装后的芯片,针测机处理封装前的圆片。