通过外部电性测试/表征,来判断器件是否失效。 SY88903VKG

   (1)为F证实器件失效,失效分析T作者在验证时常需要尝试不同的测试条件,尽量模拟可能的失效状况。对soft failurc或间歇性失效,常用schm∞图,即在ATE/测试机测试时只改变其屮一个参数,如电压、温度、频率、脉冲宽度等,来表征器件的好/坏界限和判断器

件正常T作的区问。要注意的是,上述步骤均是非破坏性分析,在操作时,要避免引入新的失效机理,或导致器件参数改变/恶化,发生二次失效现象。

   (2)在初步验证参数时,先低电压、小电流,再适当逐步增加。但不可超过数据手册(Date Shee0规定的卜限,以防过载,或引起闸歇性失效复原。

   (3)严格遵守相关器件使用的注意事项。对高阻抗(impCdancc)器件,如M()S,低功率Schottky TTI'等,要特别注意预防E()S/E⒏D损伤。

  根据所确定的失效模式拟定后续分析/测试的计划