由于要求测试的芯粒数巨大,并且生产企业对单台测试设备的产能需求等均要求点测机具有超快的测试速度,这就要求测试机具有很短的运动时间和测试时间,MLV-L20D一般在毫秒(ms)级别,通常点测机每小时能点测⒛000~35000颗芯粒。点测机测试每颗芯粒的时间虽然很短,但是其测试内容并不少,一般会根据需求测试几个电流下(如3~4个)电压(竹)、波长(峰值波长%和主波长9‰)、亮度(LoP)等,还能测试一定反向电流下对应的电压值(‰d)、^定反向电压下的漏电流值(再),如果测试机台加有静电发生器,还能测试出一定电压下芯粒的抗静电能力(EsD)。每一种参数的测试时间在几毫秒到十几毫秒之间。

   由于某些测试(如‰d、EsD)对芯粒有一定的破坏性,因此对于各项光电参数测试的顺序有一定讲究,一般会先测试再,然后是各电流下的/f、冫‰、饰、LOP等,然后是‰,最后才是测试ESD,对芯粒加静电信号后,然后再测试某反向电压下的漏电流,用此漏电流的大小衡量该芯粒的抗静电能力。