- 金属箔金属化复合电极聚丙烯电容器2015/6/28 20:14:26 2015/6/28 20:14:26
- 金属化薄膜电容器因为金属化膜层的厚度远小于金属箔的厚度，NC7SZ126P5X所以卷绕后体积也比金属箔式电容体积小很多，其最大优点是“自愈”特性：发生高压击穿后，电容的两个极片萤新相互绝缘而仍能...[全文]
- 因为金属化聚苯乙烯的厚度2015/6/28 20:10:22 2015/6/28 20:10:22
- 因为金属化聚苯乙烯的厚度、均匀度、平整度便于工艺控制，电容制备面积的精度更容易控制，MCP73855所以能制造出精度很高的电容器，其误差等级常有±1%、±2%、±5%、±10%、±20%等规格。...[全文]
- 碳膜电阻器的失效分析2015/6/27 19:09:17 2015/6/27 19:09:17
- 碳膜电阻器的失效分析可以采用非破坏性检测和破坏性解剖分析两类方法。FBMH2012HM800-T非破坏性检测主要有：外观检查、X射线检验、电性能测量等。破坏性解剖分析是检测电阻体内的构和缺陷，从...[全文]
- 碳膜电阻器的失效分析2015/6/27 19:09:17 2015/6/27 19:09:17
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- 储存期的影响2015/6/27 19:05:01 2015/6/27 19:05:01
- 电阻器储存时间要占其总寿命的一半以上，特别是对军用电子设备中所使用的元器件尤为突出。因此，FBMH2012HM221-T储存的稳定性对失效影响是很重要的。储存过程是电阻器或快或慢发生的缓慢老化过...[全文]
- 电阻器与电位器的失效机理与分析2015/6/27 19:01:53 2015/6/27 19:01:53
- 电阻器的主要失效因素电阻器失效可分为两大类，即致命FBMH1608HM601-T失效和参数漂移失效。从现场使用失效统计表明，电阻器失效的原因85%～90%属于致命性失效，如断路、机...[全文]
- 三防设计2015/6/27 18:59:05 2015/6/27 18:59:05
- 潮湿、盐雾、霉菌会造成电阻器、FBMH1608HM471-T电位器阻值变化、绝缘性降低、短路、断路和腐蚀等，从而影响产品的可靠性，应采取适当设计技术加以防护。1)在进行金属表面涂覆...[全文]
- 水泥电阻器的特点有以下几个2015/6/26 20:11:43 2015/6/26 20:11:43
- 水泥电阻器的特点有以下几个。1)有耐震、耐湿、低价格等特性；2)瓷棒上绕线然后接头电焊，MC68HC908JL8CSPE能制出精确电阻值并延长寿命；3)...[全文]
- 外引线的锈蚀2015/6/25 21:41:47 2015/6/25 21:41:47
- 引脚材料多用柯伐，HD468B00RP它是铁镍一钴的合金，其线膨胀系数和钼相近，使用中常引起锈蚀。除了其在机械加工中引入应力而产生应力腐蚀外，还存在电化学腐蚀，这是由于柯伐本身质量不好，表面存在...[全文]
- 辐射来源2015/6/25 21:28:05 2015/6/25 21:28:05
- 在地球及外层空间中，HD10101辐射环境来自自然界和人造环境两个方面。自然环境中存在着天然辐射带、宇宙射线、太阳风和太阳光耀斑，它们都是一些带电或不带电的粒子，包括质子、电子、中子、X射线和丫...[全文]
- 热阻2015/6/24 19:24:24 2015/6/24 19:24:24
- 晶体管工作时，LC75725EHS-E因消耗功率要转换成热量而使结温（有源区）上升，工作结温正与器件寿命￡有如下关系因此确定工作结温是使用器件时可靠性设计中的一个重要参数。一般对金...[全文]
- 击穿机理2015/6/23 19:20:12 2015/6/23 19:20:12
- 氧化层的击穿机理（过程），AD8403ARZ10目前认为可分为两个阶段。第一阶段是建立（磨损）阶段，在电应力作用下，氧化层内部及Si-Si0。界面处发生缺陷（陷阱、电荷）的积累，积累的缺陷（陷阱...[全文]
- 确定待升级的失效率等级2015/6/22 19:38:19 2015/6/22 19:38:19
- 当产品性能和可靠性优良的元器件经定级试验合格后，可继续进行升级试验，MAX3243EEAI+升级试验的数据可以将定级试验和维持试验的样品进行延长试验，以及为升级试验新投入的样品进行试验所获得数据...[全文]
- 加速寿命试验的数据处理2015/6/21 17:36:11 2015/6/21 17:36:11
- 在恒定应力加速寿命试验中，C052K221K2X5CA7301所得到的失效数据要进行分析和处理。所谓数据分析，主要是指判断此次试验是否正常，失效是真失效还是假失效，失效数据和失效时间是否属实，加...[全文]
- 失效模式、失效机理与激活能2015/6/21 17:32:03 2015/6/21 17:32:03
- 此式就是解释加速曲线的阿伦尼斯方程，可以看出：电子元器件或材料产生一定百分比失效时间（或寿命）￡的对数与其所施加温度的倒数呈线性关系，C052K101K2X5CA7301这可通过单边对数纸描图来...[全文]
- 区间估计法 2015/6/21 17:06:08 2015/6/21 17:06:08
- 就是利用统计分析对分布的未知参数给出一个估计范围的方法，点估计C0402KRX7R9BB152法估计的平均寿命不能给出估计的平均寿命与产品真正的平均寿命之间的误差。因为点估计所得数据是根据从该批...[全文]
- 试验应力类型的选择和应力水平的确定2015/6/21 16:50:24 2015/6/21 16:50:24
- 试验应力类型的选择视试验目的而定。若要了解产品的储存寿命或工作寿命就必须施加一定的环境应力或电应力。这是因为产品的失效是由失效机理决定的，C0402C104M4VAC7867同一件产品往往同时存...[全文]
- 筛选试验方法及其比较2015/6/20 14:56:23 2015/6/20 14:56:23
- 在表3.9介绍的几种筛选方法中，公认为CY8C5267LTI-LP089最有效的方法是老化筛选。一般认为，选用静态老化可以排除表面缺陷引起的漏电流增大、运算速度的劣化、阈值电压的变动等因素。而动...[全文]
- 筛选时间的确定在筛选试验之前，产品包括早期2015/6/20 14:52:46 2015/6/20 14:52:46
- 假设在一定的应力作用下，产品的寿CT675C-LF命是随机变量，失效的产品（劣品）和偶然失效的产品（正常产品），其失效概率密度厂(￡)和平均寿命严。玎(￡)d￡)如图3.10所示，因此早期失效的...[全文]
- 筛选应力大小及筛选时间的确定2015/6/20 14:50:14 2015/6/20 14:50:14
- 可靠性筛选所施加的应力强度只加速在正常使用条件下发生的失效机理，CS5532-ASZ而不出现新的失效因子，以保证工艺筛选的合理性和高效率，使得在最短时间内将早期失效的产品剔除，而对好的产品又不产...[全文]
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