筛选试验方法及其比较
发布时间:2015/6/20 14:56:23 访问次数:620
在表3.9介绍的几种筛选方法中，公认为CY8C5267LTI-LP089最有效的方法是老化筛选。一般认为，选用静态老化可以排除表面缺陷引起的漏电流增大、运算速度的劣化、阈值电压的变动等因素。而动态老化可以剔除氧化膜引起的存储器单元缺陷、接触缺陷及扩散缺陷等因素。表3. 14比较了施加不同应力、采用不同方法的筛选效果。
表3 14筛选试验方法及其比较
在表3.9介绍的几种筛选方法中，公认为CY8C5267LTI-LP089最有效的方法是老化筛选。一般认为，选用静态老化可以排除表面缺陷引起的漏电流增大、运算速度的劣化、阈值电压的变动等因素。而动态老化可以剔除氧化膜引起的存储器单元缺陷、接触缺陷及扩散缺陷等因素。表3. 14比较了施加不同应力、采用不同方法的筛选效果。
表3 14筛选试验方法及其比较
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