电阻器储存时间要占其总寿命的一半以上，特别是对军用电子设备中所使用的元器件尤为突出。因此， FBMH2012HM221-T储存的稳定性对失效影响是很重要的。储存过程是电阻器或快或慢发生的缓慢老化过程。

   上述各影响因素与储存期限、环境条件、电阻器的型号、结构和阻值大小有关，图5.4是非线绕电阻器各影响因素与时间的关系图。

   电负荷老化的影响

   在任何场合，电负荷均加速电阻器的老化过程。一般地说，增加电负荷促使老化比升高周围环境温度促使老化要快。这是因为导电体和接触部分的温升总是超过电阻发热的平均温度。当有潮气存在时．电压还会引起电解，加速老化进程．特别是当刻槽

电阻体间隙间存在较大的电位梯度时，这个问题显得更加突出。