- 电位器最好应用于电压调整结构2015/6/27 18:51:25 2015/6/27 18:51:25
- 焊接时，松香（助焊剂）进入印FBMH1608HM101-T刷机板之高度调整恰当，应避免助焊剂侵入电位器内部，否则将造成电刷与电阻体接触不良，产生断路、杂音等现象。电位器最好应用于电...[全文]
- 用电桥测量电阻2015/6/26 20:19:17 2015/6/26 20:19:17
- 如果要求精确测量电阻器的阻值，MC68MH360AI25VL可通过电桥（数字式）进行测试。将电阻插入电桥元件测量端，选择合适的量程，即可从显示器上读出电阻器的阻值。例如，用电阻丝自制电阻或对固定...[全文]
- 测量电阻时要注意两点2015/6/26 20:17:35 2015/6/26 20:17:35
- 1)要根据被测电阻值确定量程，MC68LC302AF20CT使指针指示在刻度线的中间一段，这样便于观察；2)确定电阻挡量程后，要进行调零，方法是两表笔短路（直接相碰），调节“调零”...[全文]
- 固定电阻器的选用方法有多种2015/6/26 20:16:30 2015/6/26 20:16:30
- 固定电阻器的选用方法有多种，MC68LC302AF16VCT选择哪一种材料和结构的电阻器，应根据应用电路的具体要求而定。高频电路应选用分布电感和分布电容小的非线绕电阻器，例如，碳膜电阻器、金属电...[全文]
- 常用微观分析设备概述2015/6/26 19:58:38 2015/6/26 19:58:38
- 失效分析常使用各种微观分析设备，它们广泛地应用于成分分析、结构分析、MC68360CZQ25L表面形态分析等方面。其详细工作原理、结构可以在微观分析课程中找到，这里只简要加以介绍，目的在于使可靠...[全文]
- 常用失效分析设备和工具2015/6/26 19:43:17 2015/6/26 19:43:17
- 分析与评价阶段的工作是：1）推断失效原因、失效机理；2）进行综合评价；3）提出防止重发的措施。失效分析使用的分析设备常采用的是理化分析设备和电气测试设备。MC68360AI33L随...[全文]
- 铝布线的腐蚀2015/6/25 21:40:26 2015/6/25 21:40:26
- 铝的氧化性活泼，HD10160G其电极电位为负（相对于氢电极），在空气中常生成一薄层Al203，它具有保护膜性质。但当有水汽存在时便生成两性的Al(OH)3，它既可溶于酸又可溶于碱，且Al(OH...[全文]
- 静电损伤模式2015/6/25 21:13:52 2015/6/25 21:13:52
- 静电损伤模式包括突发性失效和潜在性失效。1．突发性失效突发性失效使器件的一个或多个参数突然劣化，完全失去规定功能，HCPL-M611-500E通常表现为开路、短路或电...[全文]
- 物理过程2015/6/24 19:19:31 2015/6/24 19:19:31
- (1)形成固溶体铝在硅中几乎不溶解，LC74781而硅在铝中有一定溶解度，在共晶点577℃时达到原子比最大值1.59%。铝与硅反应是铝先与天然的Si02层反应，穿透S102后让铝、...[全文]
- 铝与二氧化硅2015/6/24 19:18:22 2015/6/24 19:18:22
- 以硅基为材料的微电子器件中，Si02层怍为一种介质膜是使用得很广泛的，LC7351而铝经常用作互连线的材料，Si02与铝在高温时将发生化学反应：4A1+3S10z—,2Al203+...[全文]
- 铝与二氧化硅2015/6/24 19:18:21 2015/6/24 19:18:21
- 以硅基为材料的微电子器件中，Si02层怍为一种介质膜是使用得很广泛的，LC7351而铝经常用作互连线的材料，Si02与铝在高温时将发生化学反应：4A1+3S10z—,2Al203+...[全文]
- 统计（击穿）模型2015/6/24 19:10:07 2015/6/24 19:10:07
- 高场下氧化层内部产生陷阱。L3100B随着陷阱密度的增加，有更高的电流流过。当某个局部区域陷阱密度超过某一临界值时，触发的局部电流密度上升，若沿局部路径足以促使热烧毁，即发生击穿。据此提出的统计...[全文]
- 应力强度模型2015/6/22 20:04:18 2015/6/22 20:04:18
- 假定失效是由产品内部的某种物理、MAX4561EUT+T化学反应导致强度降低，当积累超过某一阈值时而引起的一种失效物理模型，称为应力强度模型。也就是说，当应力超过产品的耐受强度时，即发生失效，这...[全文]
- 失效物理模型2015/6/22 20:02:50 2015/6/22 20:02:50
- 失效物理横型大致可以分为两大类，MAX4518ESD+T即理化模型（物理、化学、材料力学等方面的模型）和概率（统计）模型。失效的发生过程既是原子、分子微观变化的过程，又是整体上宏观...[全文]
- 级定级试验的产品实际失效率2015/6/22 19:40:20 2015/6/22 19:40:20
- 表3.235级定级试验的产品实际失效率d—0.05的产品实际失效率（10_5／小时）0.060.180.260.33如果定级试验的失效率属于5级，MAX3483ESA+T选用C为O的方案，10-...[全文]
- 加速寿命试验的理论基础2015/6/21 17:09:52 2015/6/21 17:09:52
- 电子元器件失效的原因与器件本身所选用的材料、材料之间、器件表面或体内、C0402KRX7R9BB471金属化系统以及封装结构中存在的各种化学、物理反应有关。器件从出厂经过储存、运输、使用到失效的...[全文]
- 必须找到加速前后寿命之间的关系2015/6/21 17:08:44 2015/6/21 17:08:44
- 要使加速寿命试验方法得到实际应用，必须解决下面两个问题。1)必须找到加速前后寿命之间的关系，否则加速试验无意义；2)加速必须是真正的加速，C0402KRX7R9BB2...[全文]
- 确定应测量的参数和测试方法2015/6/21 16:59:23 2015/6/21 16:59:23
- 所选择的测量参数要能够显示失效机理的发展进程，也就是说，C0402JRNPO9BN101选择那些对失效机理的发展能起到指示作用的灵敏参数。测量的参数可能不止一个，而是多个，因此在测量时必须避免各...[全文]
- 功率老化筛选2015/6/20 14:39:36 2015/6/20 14:39:36
- 功率老化筛选是很有效的一种筛选方法，是高可靠集成电路必须进行的筛选手段之一。CPC1230N功率老化通过对产品施加过电应力（电压或功率）或同时施加电应力与热应力，促使早期失效器件存在的潜在缺陷尽...[全文]
- 常见可靠性筛选试验的作用原理及条件2015/6/20 14:38:36 2015/6/20 14:38:36
- 可靠性筛选试验可分为成品筛选、器件生产线的工艺筛选和整机出厂使用前的筛选，CP3608ST-A1下面对一些常用的筛选方法做简单的介绍。1．目检和镜检筛选目检或镜检（显...[全文]
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