- 将电源滤波器移至电源线人口处2017/6/17 20:25:06 2017/6/17 20:25:06
- 【处理措施】按照以上分析,将电源EC10FW20滤波器移至电源线人口处,如图3.SO所示,再进行测试,结果如图3.81所示,可见10~⒛MHz之间原来超限值的传导骚扰降低了⒛dB以...[全文]
- 解决该产品辐射发射的问题2017/6/17 19:54:13 2017/6/17 19:54:13
- 【处理措施】根据产品共模辐射原理,解决该E10QS03产品辐射发射的问题,主要是降低共模辐射,该产品中共模辐射又跟PCB1与PCB2之间的连接器阻抗和PCB1中GND平面与参考接地...[全文]
- 热敏电阻在低电流时的功耗是很小的2017/6/16 21:22:37 2017/6/16 21:22:37
- 热敏电阻在低电流时的功耗是很小的。在温度不变时,热敏电阻和一般固定电阻的特性相同,M30280F8HP它的电压和电流有线性关系。当电流增加时,热敏电阻不能消耗所产生的功率,结果是电阻上的电压不随...[全文]
- 连接器中的引脚长度大约为10mm2017/6/14 22:49:55 2017/6/14 22:49:55
- ・连接器中的引脚长度大约为10mm,直径为lmm,这根导体具有大约10nH左右的自感。M3035S这听起来也是微不足道的,但当通过它向母板总线传输16MHz的方波信号时,若驱动电流...[全文]
- 连接器是接口电路与电缆之间的通道2017/6/14 21:53:52 2017/6/14 21:53:52
- 连接器的主要作用是给电缆或接口电路提供一个良好的互连,并保证良好的接地。选用MTV10N100E了一个不好的连接器也许会将前级滤波电路的效果毁于一旦,连接器要考虑阻抗匹配、针定义∴接地接触特性等...[全文]
- 晶闸管中频电源的基本结构2017/6/12 19:44:24 2017/6/12 19:44:24
- 晶闸管中频电源由可控或不可控整流器、滤波器、逆变器及一些控制和保护电路组成,。L6205PD013TR工作时,三相工频交流电经整流器整成脉动直流,经滤波器变成平滑直流送到逆变器,逆变器采用晶间管...[全文]
- 艺具有两种金属的VI,SI典型结构的截面图2017/6/11 10:08:29 2017/6/11 10:08:29
- 平坦化是在基片的有源晶体管和其他组件中形成的（通常是硅）．在2011年，BAS21/DG/B3R英特尔公列宣布r具有源晶体管的栅极堆叠在晶圆上的一个新的j维(3D)器件，该器件被称...[全文]
- 怎样接地才有利于EMC2017/6/8 21:36:07 2017/6/8 21:36:07
- 【现象描述】某产品的结构如图2.58所示。NDD03N60ZT4G在进行电源端口±2kⅤ、信号端口±1kⅤ的电快速瞬变脉冲群(EFγB)测试时发现,当Pl、P2、P3...[全文]
- 怎样接地才有利于EMC2017/6/8 21:36:02 2017/6/8 21:36:02
- 【现象描述】某产品的结构如图2.58所示。NDD03N60ZT4G在进行电源端口±2kⅤ、信号端口±1kⅤ的电快速瞬变脉冲群(EFγB)测试时发现,当Pl、P2、P3...[全文]
- 电弧会产生一个频率范围在l~500MHz的强磁场2017/6/8 21:29:23 2017/6/8 21:29:23
- 电弧会产生一个频率范围在l~500MHz的强磁场,并感性耦合到邻近的每个布线环路中,在离ESD电弧100mm远处的地方产生高达几十安每米的磁场c电弧辐射的电磁场会耦合到长的信号线上,这些信号线起...[全文]
- 用较厚的导电橡胶代替原来的导电橡胶2017/6/8 20:57:04 2017/6/8 20:57:04
- 【处理措施】根据分析及定位中试验结果可知,用较厚N0519NQ-ZP的导电橡胶代替原来的导电橡胶,使导电橡胶的压缩量增加,可以满足测试要求c另外,还可以采用不更换导电橡胶,直接增加...[全文]
- 传导、辐射与瞬态 2017/6/5 19:46:05 2017/6/5 19:46:05
- 开空调时,室内的荧光灯会出现瞬间变暗的现象,这是因为大量电流流向空调,电压急C0805C102J1RACAUTO速下降,利用同一电源的荧光灯受到影响。还有使用吸尘器时收音机会出现“啪啦,啪啦”的...[全文]
- 静电放电抗扰度2017/6/5 19:43:15 2017/6/5 19:43:15
- EMS(ElectloM鸭ne屺弘“ep0hlity,电磁抗扰度):即处在一定环境中设各或系统,在正常运行时,C0603C471K5RAC3083设各或系统能承受相应标准规定范围内的电磁能量干扰...[全文]
- 检验图形2017/6/3 23:04:47 2017/6/3 23:04:47
- 在显影之后,氧化层腐蚀之后及去胶之后都要进行镜检,即检查光刻胶图形是否合格,如发现TAS5414ATDKDQ1图形不准、浮胶、钻蚀、划痕、小岛、针孔及严重的边缘不齐等现象,则图形不合格,必须返工...[全文]
- 分析测量电阻率误差的来源2017/6/3 22:44:30 2017/6/3 22:44:30
- (l)分析测量电阻率误差的来源。(2)如果只用两根探针既作为电流探针又作为电压探针,这样能否对样品进行较为准确的坝量?为什么?TA7658AP硅片清洗在...[全文]
- 内嵌存储器与自我校正2017/6/2 22:21:24 2017/6/2 22:21:24
- 具有巨大内嵌存储器的芯片,需要结构上的冗余,用于在其中之一发生失效时以相同的结构替换。VES221M0J0605-TR0这必然要求C具有内部的自测试结构,能够实时监控失效的发生,确定失效究竟发生...[全文]
- GSP技术2017/6/1 21:03:57 2017/6/1 21:03:57
- CSP,即芯片尺寸封装。它是在BGA的基础上发展起来的,因其封装后尺寸与封装前的芯片尺寸相当而得名,PCA9557PW将这类LSI和VLSI芯片封装面积小于或等于芯片面积的120%或芯片封装后每...[全文]
- 芯片黏结技术2017/6/1 20:29:23 2017/6/1 20:29:23
- 如果只需将集成电路芯片固定安装在基板上,一般有以下几种方法。(1)Aus合金共熔法。芯片背PBR951面要淀积Au层,所固定的基板上也要有金属化层(一般为Au或Pd-Ag)。Atl...[全文]
- 薄层电阻测试结构的形状和测试方法2017/6/1 20:16:50 2017/6/1 20:16:50
- 随着微电子工业的发展,要求把薄层电阻测试结构做得尽可能小。为此发展PAL20L8ACNS了各种形状的薄层电阻测试结构,主要是各种方形十字结构。常用的有偏移方形十字结构(如图135所示)、大正(G...[全文]
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