- 化学、物理电源的可靠性设计2015/7/3 21:08:34 2015/7/3 21:08:34
- 1.可靠性设计的一般概念和意义化学、P0603BD物理电源的可靠性设计是指在功能设计的同时，针对电源产品在规定的条件下、规定的时间内可能出现的失效模式，采取相应的可靠性设计技术，消...[全文]
- 锂一次电池的分类十分复杂2015/7/2 22:13:44 2015/7/2 22:13:44
- 锂一次电池的分类十分复杂，通常按所HC7266选电解质的性质来分类，可分为以下四类：锂有机电解质电池、锂无机电解质电池、锂固体电解质电池、锂熔盐电池。锂一次电池的型号和种类繁多，它们各自有其特点...[全文]
- 高能电池2015/7/2 22:07:42 2015/7/2 22:07:42
- 具有高“比能量”和高“比功率”HC5517CB的电池称为高能电池。所谓“比能量”和“比功率”是指电池的单位质量或单位体积计算电池所能提供的电能和功率。目前，高能电池发展迅速、种类繁多。...[全文]
- 海洋电池2015/7/2 22:06:22 2015/7/2 22:06:22
- 1991年，我国首创以铝一空气一海水为能源的新型电池，称为海洋电池。HC5515CM它是一种无污染、长效、稳定可靠的电源。海洋电池彻底改变了以往海上航标灯的两种供电方式：一是依靠一次性电池，如锌...[全文]
- 干电池2015/7/2 21:57:04 2015/7/2 21:57:04
- 干电池也称一次电池、HC221原电池，即电池中的反应物质在进行一次电化学反应放电之后就不能再次使用了。下面介绍几种常用的干电池。(1)锌锰电池锌锰电池，又称碳锌电池，...[全文]
- 热设计技术2015/7/1 19:51:39 2015/7/1 19:51:39
- 微特电机使用寿命与温度关系密切。HEF4072BT某些微特电机温度升高，其机械参数、电气参数会相应发生变化，导致产品寿命缩短，失效率增大。热设计时应考虑如下因素。1)根据产品工作环...[全文]
- 保证导线接触良好2015/7/1 19:28:08 2015/7/1 19:28:08
- 保证导线接触良好：线圈内HCPL-0600R2部接头接触不良，线圈之间的连接点，引至高、低压侧套管的接点以及分接开关上各支点接触不良，均会产生局部过热，破坏绝缘性，发生短路或断路。此时所产生的高...[全文]
- 变压器2015/7/1 19:27:04 2015/7/1 19:27:04
- 1．功能和分类变压器的主要功能有：HCF4099BEY电压变换、电流变换、阻抗变换、隔离、稳压（磁饱和变压器）等，具有多种分类方法。1)按相数分：单相变压器、三相变压...[全文]
- 压磁材料及应用2015/7/1 19:21:24 2015/7/1 19:21:24
- 压磁材料指在外加磁场作用下会发生机械形变（伸长或缩短）的磁性材料，HM628511HJP-10故又称磁致伸缩材料。其功能是磁声或磁力能量的转换，常用于超声波发生器的振动头、通信机的机械滤波器和电...[全文]
- 接触电阻稳定性设计2015/6/30 21:13:28 2015/6/30 21:13:28
- ·选择能满足性能要求的接触对的结构形式接触对的结构形式通常有针孑L式、簧片式和双曲面线簧式等及其相类似的结构。LM4889ITLX根据使用要求、产品结构特点、可靠性、寿命、接触对的...[全文]
- 连接器发展趋势2015/6/30 21:06:39 2015/6/30 21:06:39
- 简言之，LM4041DIM3-ADJ/NOPB连接器技术的发展趋势是：信号传输的高速化和数字化，各类信号传输的集成化，产品体积的小型化、微型化，产品的低成本化，接触件端接方式表贴化，模块组合化，...[全文]
- 电容的潜在危险及安全性2015/6/29 21:22:31 2015/6/29 21:22:31
- 在电容充电后关闭电源，M13S128324A-5BG电容内的电荷仍可能储存很长的一段时间。此电荷足以产生电击，或者破坏相连接的仪器。一个卡片相机的闪光模组由1.5V的AA干电池充电，看似安全，但...[全文]
- 参数漂移或阻值超差2015/6/28 19:54:25 2015/6/28 19:54:25
- 对于线绕电位器，MCF5274LVM166由于它是电感性负载，在高频作用下，因存在电磁感应效应而影响阻值的稳定性。其在运行过程中，由于磨损使接触轨道上电阻线的面积减小，阻值增大，或者因磨损产生的...[全文]
- 产生机理2015/6/25 21:34:21 2015/6/25 21:34:21
- 器件的封装材料（陶瓷管壳，作为树脂填充剂的石英粉等）中含有微量元素铀、HD10136钍等放射性物质，它们衰变时会放出高能a射线。当这些a射线或宇宙射线照射到半导体存储器上时，引起存储数据位的丢失...[全文]
- 静电放电损伤2015/6/25 21:11:47 2015/6/25 21:11:47
- 微电子器件在加工生产、组装、储存及运输过程中，可能与带静电的容器、HCPL-M454测试设备及操作人员相接触，所带静电经过器件引线放电到地，使器件受到损伤或失效，这就叫静电放电电损伤(ESD)。...[全文]
- 物理控制程序2015/6/23 18:59:34 2015/6/23 18:59:34
- 20世纪60年代初期，MOS晶体管开始批量生产，发现与硅热氧化结构有关的电荷严重影响着成品率、AD8139ACPZ工作的稳定性和可靠性，于是展开了关于氧化层电荷的研究。这里用面密度Q(Clcmz...[全文]
- 失效物理可以帮助检验和确定施加应力时有无瞬时效应2015/6/23 18:56:06 2015/6/23 18:56:06
- 这种方法的优点是，不管元AD8131AR器件的设计、工艺、材料等如何变化，均可通过技术上的评价来估计失效率，还可以获得究竟哪种失效模式相对影响最大，而且这种失效将会对组装成的设备产生什么影响提供...[全文]
- 维持试验抽样表2015/6/22 19:35:13 2015/6/22 19:35:13
- 按规定条件（额定或加速）进行试验，直到达到累计的元件小时T。时为止。关于额定或加速试验问题，MAX3237EAI+T我国国标GB1772-1979电子元器件失效率试验方法中已经明确...[全文]
- 艾林( Eyring)模型是从量子力学推导出来2015/6/21 17:33:40 2015/6/21 17:33:40
- 艾林(Eyring)模型是从量子力学推导出来的，它表示某些电子元器件或材料参数退化的时间速率仅仅与由温度所引起的物理或化学反应速率有关.除了考虑热应力的作用外，C052K104K5...[全文]
公网安备44030402000607
