艾林( Eyring)模型是从量子力学推导出来的，它表示某些电子元器件或材料参数退化的时间速率仅仅与由温度所引起的物理或化学反应速率有关.

   除了考虑热应力的作用外， C052K104K5X5CA7301广义艾林模型还考虑了其他非热应力s的作用。这对于电子元器件在复杂工作环境下失效的实际情况是比较符合的，其反应速率方程，ecs表示由于菲热应力对能量分布的调整；e并表示由于非热应力对激活能的调整。

   在加速寿命试验中，也有用湿度作为加速变量的，也有同时采用湿度应力和电应力进行加速的。如THB(高温、高湿、偏置)加速试验，其主要目的是评价器件的耐潮湿寿命，采用公式为必须指出：上述这些模型仅仅对某一范围内的应力值适用，在此范围之外就不一定适用，因为它可能导致失效机理的改变，使用时必须特别慎重。对于电子元器件或材料的加速寿命试验模型，最常用的是逆幂率和阿伦尼斯模型。