能性 可测性没计(design for testability,dFT)是在微电子芯片产品设计屮加入F先进的测试设计,使得所涉及芯片的制造测试、开发和应用变得更为容易和便宜。OB2268CP

   扫描设计是与组合逻辑设计相关的最常见DFT方法。基本观念就是它可以透过触发器构成的电路来控制和观测电路内部状态。触发器就是电路内部的观察点。

   扫描设汁是通过对电路增加^个有触发器的测试模式(1es1modc)设计。在没计L・都采用D触发器当电路处于测试模式的时候・所有触发器在功能L串成一个或多个移位暂存器。触发器的输人时对适当的插入在组合电路的观察点L・信号在电路内传输的结果可以经由观察点的移位暂存器渎出,从而判断信号在电路内部逻辑传播错误的产隹点) 这些移位暂存器(也称扫描暂存器)的输入输出也可以变成原始的输入输出,通过将逻辑状态设定到 D移位暂存器中的方法,可以设定触发器的初始值,作为一个输人值;同样地,也可以通过将移位暂存器内容渎 sI出来,而观察移位暂存器的状态,作为一个输出值。