器件的可靠性是指在规定的条件下,器件完成规定功能的能力,通常用寿命表示。CAP009DG超大规模集成电路的可靠性除了机械与环境的因素外,影响最大的因素就是电应力和热应力。

   电子产品最常用的温度加速模型是阿伦纽斯(ArrhenitIs Modcl)模型。此模型中假设参数的退化与温度的变化是线性的,平均故障间隔时间(Mcan-△mc Bc枷ccnFailurc,MTBF)是温度应力的一个函数,于是得到阿伦纽斯模型与温度的关系式如下:

8.617×10犭eⅤ伥;Γ是绝对温度。相同产品在不同温度下得到的寿命的比值,称为加速系数(AcccIerationactor,AF)。加速系数与温度由「l改变到马时的寿命有关,不同温度条件下的寿命相除即可得出加速系数。当凡=0.7Cv时,125°C时的加速系数约是85℃时的10倍,也即125℃时的MTBF值为85℃时的1/10。因此,温度对产品的可靠性有相当大的影响,温度每上升10℃,可靠性约降低1/2。