简化模型。在一个ADM1181AARWZ电路中存在着多种失效机理,这些失效机理在电路的工作过程中同时起作用。但对可靠性评价技术来说,同时考虑多种失效机理的作用,将会使问题变得复杂且难以解决,不利于工程上的应用,因此需要针对单一失效机 理来考虑,建立单一失效机理的可靠性评价模型。从理论上也可对此进行解释,因为在多种失效机理中,对一个特定的电路来说,总会有一种失效机理起主导作用,这种失效机理是电路失效的主要原因。尽管还有其他失效机理的存在,但这些失效机理对电路的失效起次要作用,仅仅对电路的失效时间有所影响。

   快速评价。评价试验是在高温、大电流密度或高电压条件下进行的,加速系数较大,相对于使用失效来说,可在较短的时间内获得一批可靠性数据。通过对数据的统计分析,就可对金属化电迁移、热载流子注入效应、与时间有关的栅介质击穿、接触退化、键合退化和表面态的可靠性进行评价。