- 几何模型建立2016/12/31 19:37:52 2016/12/31 19:37:52
- 通过OperaManager打开Modcller之后(参考第2.2节),首先建立两个超导线圈。由HA17324ARPEL于超导线圈仅仅是载流导体,而不涉及其他有限元问题,因此在Opera3D中将...[全文]
- 相接触的实体或空气如果网格划分缺少过渡2016/12/30 22:37:52 2016/12/30 22:37:52
- ・Mesh∞ntrolparameters用于网格划分参数设定。其中最主要的参数是Maximumelemel△tsize,用于设置该实体中有限单元的最大尺寸。尺寸的选择很重要,AT...[全文]
- 旋转后的两极板2016/12/29 21:03:21 2016/12/29 21:03:21
- 该对话框用于对几何实体进行平移Dlsplace、旋转Rotate、映射Reflect,缩放⒌ale、Euler转角等操作。IC-PST572IMT-R在对话框左侧可以选择各类变形类别,如旋转Ro...[全文]
- 解算报告窗口即停止更新内容2016/12/29 20:35:55 2016/12/29 20:35:55
- 解算完成后,解算报告窗口即停止更新内容。单击窗口IC-PST529FMT-R底部的PostProcess按钮,如图4.1.30所示,此时Opera3D调出后处理程序并加载后处理文件(解算数据文件...[全文]
- 13个螺管线圈几何参数 2016/12/28 19:20:01 2016/12/28 19:20:01
- 按照以上的方法,根据表3.3,1创建另外几个螺管线圈的模型。建好之后,主窗OB2631MP口中即形成4个螺管线圈组成的模型,如图3,3.5所示。如果想看...[全文]
- POst-PrOcessor: 单纯绂圈产生的磁场 2016/12/28 19:08:21 2016/12/28 19:08:21
- 知识要点:・无须有限元建模,而用PostPrc,cessor直接计算通电线圈产生的磁场;OB2269CCPA・通过Table命令输出计算结...[全文]
- Opera3D中线圈的激励源有两种2016/12/27 20:30:55 2016/12/27 20:30:55
- 铁磁体的几何模型导人之后,建立超导线圈。在Opera3D中,超导线圈被看作纯导体,M25P05-AVMN6TP导体截面上的电流密度均匀分布,Opera3D由积分法直接计算导体产生的磁场强...[全文]
- 建立磁体支撑框架2016/12/26 19:48:35 2016/12/26 19:48:35
- 单击OK按钮,主窗口如图3.1.7所示。建立磁体支撑框架。VC060305A150R框架由1对平板及4根方柱脚组成。单击I具栏中的方块实体创建按钮粤,弹出如图3,1,8所示方块实体...[全文]
- 创建的圆柱实体2016/12/26 19:38:33 2016/12/26 19:38:33
- 在Name文本框输人自定义圆柱实体的名称Magnct,一个标准圆柱体Cylinder由上底圆心Centrehref="http://www.51dzw.com/VC0_S/VC0529BRVC....[全文]
- MOdeHer开发环境2016/12/26 19:32:46 2016/12/26 19:32:46
- Modeller是Opera3D建立有限元模型的主要程序,它可以通过人机交互窗口或者命令脚本完成有限元建模。VBO40-08N06与其他有限元软件相似,Opcr【a3D的Modeller首先根据...[全文]
- 画出实验电路,整理和分析实验数据,2016/12/24 20:25:15 2016/12/24 20:25:15
- (1)画出实验电路,整理和分析实验数据,并与理论值进行比较,分析产生误差的原因。M29W320EB-70N6E(2)对集成运放3种输入方式的特点进行小结。(3)分析讨...[全文]
- 输人、输出电阻测量电路2016/12/24 20:18:06 2016/12/24 20:18:06
- 放大器输入电阻的大小,表示该放大器从信号源或前级放大器获取多少电流,为前级电路设计提供负载条件。M27C512-12FI可用串接电阻法测量Ri,。为了测量放大器的输入电阻,即在信号源与放大器输入...[全文]
- 电子技术实验包括模拟电子技术实验和数字电子技术实验2016/12/24 19:57:05 2016/12/24 19:57:05
- 电子技术实验包括模拟电子技术实验和数字电子技术实验,可以分为娃个层次:基础实验、M12L16161A-7TG综合性实验、设计性实验、仿真实验。基础实验主要针对电子技术本门学科范围内...[全文]
- 初步检查2016/12/23 20:47:47 2016/12/23 20:47:47
- 排除故障时可先对EP1C60240C8N电路进行全面的初步检查,检查内容包括:(1)布线有无错误,如错接、漏接;(2)集成电路插接是否牢固,有无松动和接触不良现象;...[全文]
- 用直流扫描分析直流电源对晶体管基极电位的影响2016/12/23 20:32:13 2016/12/23 20:32:13
- 用直流扫描分析直流电源对晶体管基极电位的影响(1)单击设计工具栏的“Andy⒍F按钮,EL7457CSZ选择DCSweep分析方法。(2)在Al・...[全文]
- 瞬态分析2016/12/22 22:00:13 2016/12/22 22:00:13
- 瞬态分析是一种非线性时域分析方法,可以分析在激励信号的作用下电路的时域响应,相NF-6100-430-N-A3当于连续性的静态工作点分析,通常是为了找出电子电路的工作情况,就像用示波器观察节点电...[全文]
- NI Multisim13简介 2016/12/22 21:04:25 2016/12/22 21:04:25
- >成部分,其前身为EWB(Electroll饵WorkBet△ch)。NIMulti“m是一种交互式电路模拟软件,是一种EDA工具,N085-15它为用户提供了丰富的元件库和功能齐全的各类虚拟仪...[全文]
- 数字集成电路的应用要点2016/12/21 21:14:59 2016/12/21 21:14:59
- 数字集成电路使用中注意事项在使用集成电路时,为了不损坏器件,充分发挥集成电路的应有性能,应注意以下问题。(1）认真查阅使用器件型号的资料:对于要使用的M1-76321...[全文]
- CMOS集成电路2016/12/21 21:11:30 2016/12/21 21:11:30
- CMOS数字集成电路是利用NMOS管和PMOS管巧妙组合成的电路,属于一种微功耗的数字集成电路。M1644TA1主要系列有下面几种。(1)标准型4000B/4500B系列:该系列是...[全文]
- 日本常用半导体器件的型号命名标准2016/12/21 20:44:15 2016/12/21 20:44:15
- 日本半导体分立器件(包括晶体管)或其他国家按日本专利生产的这类器件,都是按日本工业标准(JE)规定的命名法(J⒙C-702)命名的。M02044CG-61日本半导体分立器件的型号...[全文]
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