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级联劝能均流精度测试2019/6/24 21:21:48
2019/6/24 21:21:48
级联劝能均流精度测试具有级联功能的DC/DC变换器,可以将2个或多个产品按其规定的连接方式进行并联,以提高输出电流和输出功率。按规定的级联方式,一般一个产品作为主模块,其余产品作为...[全文]
两者的应用范围不同2019/6/24 21:04:22
2019/6/24 21:04:22
1.两者的应用范围不同IKW50N60H3标准中规定的QML鉴定检验,通常用于采用片式元器件和引线键合工艺制造的混合集成电路的工艺与材料的鉴定,以评价电路制造中用到的所有工艺与材料...[全文]
​DC/DC变换器2019/6/24 20:35:36
2019/6/24 20:35:36
DC/DC变换器DC/DC变换器的主要功能是将输入直流电压转化为系统所需要的各种直流电压。按电路拓扑结构来分,DC/DC变换器可分为硬开关变换器和软开关变换器。AD8317ACPZ...[全文]
​DC/DC变换器2019/6/24 20:32:33
2019/6/24 20:32:33
DC/DC变换器AD8314ARMZ-REEL7DC/DC变换器的主要功能是将输入直流电压转化为系统所需要的各种直流电压。按电路拓扑结构来分,DC/DC变换器可分为硬开关变换器和软...[全文]
动态参数测试方法2019/6/23 18:14:19
2019/6/23 18:14:19
动态参数测试方法动态参数主要包括总栅电荷gg栅极一源极间电荷ggs和栅极一漏极间电荷仇VDMOs是电压型驱动器件,驱动的过程就是栅极电压的建立过程,这是通过对栅源及栅漏之间的电容充...[全文]
测量晶体管的特征频率2019/6/23 18:00:07
2019/6/23 18:00:07
1)测量晶体管的特征频率(见图5-43)T为被测晶体管图5-43特征频率测试图2)电路说明和要求G6J-2P-Y-DC24VV0为电子电压...[全文]
基极-发射极电压(直流法)2019/6/23 17:41:52
2019/6/23 17:41:52
基极-发射极电压(直流法)1)测量晶体管的基极一发射极电压(见图5-37)2)测试步骤G6J-2FS-Y-12VDC(l)将温度调到规定值。...[全文]
​示波器法2019/6/22 19:19:38
2019/6/22 19:19:38
示波器法1)用示波器法测量整流二极管的反向电流瞬时值(见图5-27)2)电路说明和要求ECLAMP2504K.TCTG1为低阻抗交流电压源...[全文]
​示波器法2019/6/22 19:19:37
2019/6/22 19:19:37
示波器法1)用示波器法测量整流二极管的反向电流瞬时值(见图5-27)2)电路说明和要求ECLAMP2504K.TCTG1为低阻抗交流电压源...[全文]
场效应管2019/6/22 18:48:15
2019/6/22 18:48:15
场效应管场效应管(FET)是利用输入回路的电场效应来控制输出回路电流的一种半导体器件。由于它仅靠半导体中的多数载流子导电,又称为单极型晶体管。ECASD40D227M009K00场...[全文]
晶闸管的主要参数2019/6/22 18:46:47
2019/6/22 18:46:47
晶闸管的主要参数(1)通态电压(/T,/TM):在规定的主电流和栅极电流条件下,可控硅A极与K极间的电压。ECA1085-33-A9F(2)维持电流(fH):在控制极...[全文]
整流二极管2019/6/21 21:55:43
2019/6/21 21:55:43
整流二极管整流二极管是将交流电转换为直流电的半导体器件。整流二极管具有明显的击穿电压高、反向漏电流小、IDT72221L25JI高温性能良好的特性。通常高压大功率整流...[全文]
​二极管外形和结构2019/6/21 21:49:50
2019/6/21 21:49:50
二极管外形和结构1,常见二极管外形IDT71016S15YG8二极管这类器件具有非线性的电流一电压特性。随着半导体材料和工艺技术的发展,利用不同的半导体材料,研制出结...[全文]
集成电路测试技术的发展与整个产业的发展是密不可分的2019/6/21 21:45:09
2019/6/21 21:45:09
集成电路测试技术的发展与整个产业的发展是密不可分的,集成电路的测试贯穿于设计、制造、封装与应用整个产业链。大规模集成电路工作频率高,同时接口单元数据速率越来越高,低压、高速是集成电路发展的方向。...[全文]
双端转单端设计2019/6/20 21:12:15
2019/6/20 21:12:15
1)双端转单端设计R6545APDDs器件内部的DAC一般采用电流互补输出模式,测试时需要将其转换为电压信号。DAC的差分电流信号被转换成单端电压信号后,一般需要对其...[全文]
输出信号上升时间、输出信号下降时间的测试2019/6/20 20:59:33
2019/6/20 20:59:33
输出信号上升时间、输出信号下降时间的测试高速信号的上升时间和下降时间都在零点几ns,对测试系统和信号传输通路要求比较苛刻,消除传输通路的影响因素,保证测试精度是需要重点关注的。R5...[全文]
输出信号上升时间、输出信号下降时间的测试2019/6/20 20:59:33
2019/6/20 20:59:33
输出信号上升时间、输出信号下降时间的测试高速信号的上升时间和下降时间都在零点几ns,对测试系统和信号传输通路要求比较苛刻,消除传输通路的影响因素,保证测试精度是需要重点关注的。R5...[全文]
​测试矢量2019/6/20 20:48:38
2019/6/20 20:48:38
测试矢量测试矢量是基本波形单元的序列集合,通过它可以实现被测器件功能测试的时序对应关系。R1420017FNR・测试项测试项实现具体的参数...[全文]
集成电路测试支撑技术2019/6/20 20:46:46
2019/6/20 20:46:46
集成电路测试支撑技术R1240N001B-TR-FE目前,大规模集成电路由于自身集成度高、功能复杂,测试开发难度大,周期也较长,大规模集成电路测试开发过程可以分为以下五个阶段。...[全文]
​测试程序基本构架2019/6/20 20:45:17
2019/6/20 20:45:17
测试程序基本构架一般来讲,大规模集成电路测试程序框架主要由以下六个部分构成:引脚定义(Hn)、电平定义(Lcvcl)、时序定义(△血ng)、测试矢量(Vcctor)、测试项(Tes...[全文]
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