测试晶体三极管特性时，一般采1N4005用曲线测试仪法或电压一电流表法。图5.27示出了采用电压一电流表法，对2SC2320共发射极接法的CE -IC特性的测试电路。让参量IB保持在0.02mA不变，VCE从OV增加到5V，这时测量Ic值。然后，保持0.04mA不变，再测量Ic。这样，在不同参变量IB时测得的VCE-IC犄性曲线如图5.28所示。采用电压一电流表法测试时需要较长时间，比较麻烦。而采用曲线测试仪时，瞬时就可以描绘出晶体三极管的静特性，使用起来十分方 便。用曲线测试仪测试晶体三极管时，要正确连接其发射极、集电极和基极。用切换开关将发射极接地，确定集电极的最大电压，确定参变量基极电流，。的取值间隔。然后给晶体三极管施加电压并使其流过电流，则曲线测试仪即可描绘出图5.28所示的曲线。