金属薄膜的缺陷和扩散
发布时间:2012/4/27 19:25:37 访问次数:782
Al、Au薄膜在淀积过程中,由于杂质污染及局部应48CTQ060力使薄膜中存在一定的密度缺陷,主要是空位和晶界。
Al离子的热振动可使其从正常晶格位置上激发到临近的空位中,产生Al离子的自扩散,相当于“空位”运动。空位扩散系数D为:
D= Do exp(-Q/K T) (4.4)
式中,D。为与激活熵有关常数;Q为扩散激活能。
Al离子自扩散各向同性,不会形成质量的积累与亏损。当受到力的作用时,Al离子会往一固定方向运动,在一端产生Al离子堆积,另一端产生空洞。晶粒尺寸大小作为相关因子,会对金属条平均失效时间(MTF)产生影响,表4.3是晶粒尺寸大小比较。
Al、Au薄膜在淀积过程中,由于杂质污染及局部应48CTQ060力使薄膜中存在一定的密度缺陷,主要是空位和晶界。
Al离子的热振动可使其从正常晶格位置上激发到临近的空位中,产生Al离子的自扩散,相当于“空位”运动。空位扩散系数D为:
D= Do exp(-Q/K T) (4.4)
式中,D。为与激活熵有关常数;Q为扩散激活能。
Al离子自扩散各向同性,不会形成质量的积累与亏损。当受到力的作用时,Al离子会往一固定方向运动,在一端产生Al离子堆积,另一端产生空洞。晶粒尺寸大小作为相关因子,会对金属条平均失效时间(MTF)产生影响,表4.3是晶粒尺寸大小比较。
上一篇: S102薄膜的击穿机理
上一篇:金属化条平均失效时间
热门点击
- 智能家居系统实现流程
- USB接口设计
- 音频编解码模块
- 静电防护的主要措施
- IEEE 802.15.4标准
- 无线通信芯片CC2420
- 光刻工艺对器件质量的影响及其工艺控制要求
- 磁性天线
- 基于无线传感器网络的多网络融合系统结构
- 中央处理模块
推荐技术资料
- 自制智能型ICL7135
- 表头使ff11CL7135作为ADC,ICL7135是... [详细]