再来看看图2.84所示的情况,在金属屏蔽外壳与开关电源的PCB之间无任何连接的情况下,ECH8601R-TL-E流入开关电源输入电缆的共模电流并没有减小。

    图2.84 金属外壳并没有减小流人电缆的共模电流

    不仅如此,再仔细分析一下图2.84所示的情况,金属屏蔽外壳的增加,还使开关电源内部电路噪声的耦合关系发生了什么变化。以开关电源PCB中开关信号所在点(高dI//dr)与开关电源输人电源线之间的耦合关系为例,在无金属屏蔽外壳时其间耦合关系原理如图2.85所示,在这种情况下,只要PCB布局布线合理,图2.85中开关电源PCB中开关信号所在点与开关电源输入电源线之间的寄生电容Cs”C"均比较小(一般在零点几皮法);而当存在金属外壳时,由于金属板的存在,使开关电源PCB中开关信号所在点(高dIJ/d莎)与开关电源输入电源线之间的寄生电容等于图2.86C′s1与C′s2的串联⊙由于开关电源PCB中开关信号所在点(高dI//dJ)与开关电源输人电源线到金属板的距离(几厘米)要比到参考接地板的距离(约1m)近很多,使得C′sl、C′s2要远远大于Cs灬Cs2。即开关电源PCB中开关信号所在点(高d〃df)与开关电源输人电源线之间的耦合大大加重,流入电源输入线的共模电流大大增加,辐射也大大增加。这就是本案例中出现金属屏蔽外壳反而导致辐射发射测试失败的原因。当金属外壳与PCB中的0Ⅴ相连后,虽然图2.86所示的寄生电容C′s1、C′s2依然存在,但是C′sl、C′s2互连点上的电位为零,导致来自于C sl的共模电流不会继续往C′s2流动,从而减小了流向开关电源输人电缆的共模电流,降低了辐射发射。