Scatter pIot(散点图)和CDF pIot(累积概率图)

   在考查变量之闸的关系时,常常利用scatter plo1。此外,利用symb°l或者color对数据点进乍j lx分,可以非常有效地把数据的白然分组可视化。TC74VHC244FEL

    图17.32表示一个典型的利用scatter plot进行dev/lce split分析的案例。由图可以发现,相比baseline的wafer,某些split在Idoff方面明显变差。 CDF plot通常用于观测数据是否正态分布,或者用于发现异常点、异常分布。图17,33表示利用CDF plot发现某sp1it存在严重的leakage问题。通常,类似图中标出的tad部分严重偏离主体分布,往往意味着和主体不一样的物理机制在起作用。