CMOS电路中的短路情况,可能会造成某一状态下到地的一条通路,例如,图14-15(a)中的飞管短路,当输人向量为01时,Tl、T.、飞就构成了Ⅵx)至地的通路, VEJ221M1VTT-1010LBY此时电源电流将突然增大。针对这样的情况,rDDQ测试将非常有效。

    CMOS电路中的交叉错误同样会引起失效,并且不能以固定错误模型加以描述,尤其是对复杂的CNI(B结构。由此可见,由于CMOS电路特殊的二元性,单纯p管或n管部分的失效,给电路测试带来更多的困难。实际证明,对CMOS集成电路的测试,最有效的方法是功能测试结合马Jlu测试。

   另外,数字集成电路中还存在一些偶发性错误,可分为以下两类。

   ①传输错误:射线、电源电压波动等造成的数据错误。

   ②间歇性错误:电路中的某些不当造成随机出现的错误。  

   在产生测试图形时充分考虑以上的问题,以最大限度地覆盖可能存在的失效。