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显影剂( developer)

发布时间:2015/11/17 19:13:46 访问次数:705

   显影剂( developer):在经过DG506AEWI芯片制造工艺中的掩膜和曝光确定去除区域后,用来去除光刻胶的化学药品,器件( device):单结元件,如晶体管、电阻或电容器。去离子水( DI water):通过其电阻率测量该水的纯度,标准是l 8 Mgl,乙硼烷( B2H6):-种气体,经常用于向硅中掺硼。芯片(die):晶圆上由划片线分隔的单元。当所有晶圆制造步骤完成后,芯片经过切割分开分开后的单元称为芯片。

   芯片黏结( die bonding):封装步骤、通过导电的黏合剂或金属合金将单个芯片黏接在封装体f:芯片分拣( die sort):参见晶圆电测,通常称为中测。介质( dielectric):绝缘材料。在加电压时不传导电流。半导体I:艺中常用两种介质,即氧化硅和氮化硅。扩散( diffusion):半导体生产工艺.将少量杂质(掺杂物)加入衬底材料如硅或锗中,并使掺人的杂质在衬底中扩散。该工艺过程对温度和时间依赖性很强,扩散率(diffusivity】:掺杂物在半导体中移动或扩散的速率。二极管( diode):只允许电流单向流动的器件。    ’双列直插封装(DIP):长方形集成电路封装体。其管脚沿长边排列并向下弯折以便插接.分立器件( discrete device):只具备单一功能的电路。包括电容、电阻、晶体管和熔断丝等.位错( dislocation):晶格中的断续现象,是一种晶格缺陷。

    扩散的MOS( DMOS):一种晶体管结构。源极和漏极间距(沟道长度)很小沟道长度通过连续两次从同一处扩散形成。施主( donor):某种可以将半导体变为N型的杂质。贡献额外的“自由”电子,电子携带负电荷掺杂物( dopant):一种可以改变半导体导电性的元素  町以对导电过程提供卒穴或电子  对硅的掺杂物往往来源于元素周期表中的第IIJ族和第V族元素

   显影剂( developer):在经过DG506AEWI芯片制造工艺中的掩膜和曝光确定去除区域后,用来去除光刻胶的化学药品,器件( device):单结元件,如晶体管、电阻或电容器。去离子水( DI water):通过其电阻率测量该水的纯度,标准是l 8 Mgl,乙硼烷( B2H6):-种气体,经常用于向硅中掺硼。芯片(die):晶圆上由划片线分隔的单元。当所有晶圆制造步骤完成后,芯片经过切割分开分开后的单元称为芯片。

   芯片黏结( die bonding):封装步骤、通过导电的黏合剂或金属合金将单个芯片黏接在封装体f:芯片分拣( die sort):参见晶圆电测,通常称为中测。介质( dielectric):绝缘材料。在加电压时不传导电流。半导体I:艺中常用两种介质,即氧化硅和氮化硅。扩散( diffusion):半导体生产工艺.将少量杂质(掺杂物)加入衬底材料如硅或锗中,并使掺人的杂质在衬底中扩散。该工艺过程对温度和时间依赖性很强,扩散率(diffusivity】:掺杂物在半导体中移动或扩散的速率。二极管( diode):只允许电流单向流动的器件。    ’双列直插封装(DIP):长方形集成电路封装体。其管脚沿长边排列并向下弯折以便插接.分立器件( discrete device):只具备单一功能的电路。包括电容、电阻、晶体管和熔断丝等.位错( dislocation):晶格中的断续现象,是一种晶格缺陷。

    扩散的MOS( DMOS):一种晶体管结构。源极和漏极间距(沟道长度)很小沟道长度通过连续两次从同一处扩散形成。施主( donor):某种可以将半导体变为N型的杂质。贡献额外的“自由”电子,电子携带负电荷掺杂物( dopant):一种可以改变半导体导电性的元素  町以对导电过程提供卒穴或电子  对硅的掺杂物往往来源于元素周期表中的第IIJ族和第V族元素

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