老炼试验
发布时间:2015/11/16 19:02:38 访问次数:1752
最后一项测试是可选择的老炼试验。FJMA790其呵选择的原因是尽管所有高可靠性器件生产批次必须进行老炼试验，却不一定对商用器件进行此项测试。此项测试要 求将器件插入到插件座中，安装在有温度循环能力的测试室内。在测试中，器件电路在加电的情况下经受温度循环测试。
老炼试验的目的是为了对芯片与封装体内部的电性连接施加应力，驱使芯片体上所有污染物跑到正在运行的电路中，因而导致失效。这项试验基于的一系列数据表明此芯片倾向于此类失效，从而在其早期的使用寿命中出故障。通过老炼试验可以检测早期失效。那些通过老炼试验的器件从统计概率E讲更加可靠。
最后一项测试是可选择的老炼试验。FJMA790其呵选择的原因是尽管所有高可靠性器件生产批次必须进行老炼试验，却不一定对商用器件进行此项测试。此项测试要 求将器件插入到插件座中，安装在有温度循环能力的测试室内。在测试中，器件电路在加电的情况下经受温度循环测试。
老炼试验的目的是为了对芯片与封装体内部的电性连接施加应力，驱使芯片体上所有污染物跑到正在运行的电路中，因而导致失效。这项试验基于的一系列数据表明此芯片倾向于此类失效，从而在其早期的使用寿命中出故障。通过老炼试验可以检测早期失效。那些通过老炼试验的器件从统计概率E讲更加可靠。
相关技术资料- 11-16老炼试验
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