位置:51电子网 » 技术资料 » 模拟技术

隧道/隔段概念

发布时间:2015/10/26 21:45:35 访问次数:453

   随着更严格的颗粒控制成为必要,VLF型工作台就产生了一些缺点、其中主要是由于车HEF4013BTR间中众多作人员的移动而产生的易污染性。进出于加工车间的T作人员对所有流程的【作台都有潜在的污染?

   把加工车间分割为不同的隧道可解决人员污染问题(见图5. 11)。这时VLF型过滤器被装于车间天花板上,而不是在单独工作台中,但是起的作用相同。经过天花板中的过滤器流入的空气可保持继续洁净,井且会降低人员产生的污染,这是因为减少了作台周围的工作人员。但这种方法的缺点是建造费用较高,而且不适于工艺改动。

      

   设备和设施设计的趋势已经变为将晶圆与污染源隔离(见图5. 12)。VLF罩将晶圆与室内空气隔离,并通过隧道将晶圆与过度人员暴露隔离。CMOS集成电路的出现增加r工艺步骤数并要求在净化间包含更多艺平台。

   这些更大的房问(和隧道)给他们带来f由于空气总量和操作者数量增加的潜在污染

   随着更严格的颗粒控制成为必要,VLF型工作台就产生了一些缺点、其中主要是由于车HEF4013BTR间中众多作人员的移动而产生的易污染性。进出于加工车间的T作人员对所有流程的【作台都有潜在的污染?

   把加工车间分割为不同的隧道可解决人员污染问题(见图5. 11)。这时VLF型过滤器被装于车间天花板上,而不是在单独工作台中,但是起的作用相同。经过天花板中的过滤器流入的空气可保持继续洁净,井且会降低人员产生的污染,这是因为减少了作台周围的工作人员。但这种方法的缺点是建造费用较高,而且不适于工艺改动。

      

   设备和设施设计的趋势已经变为将晶圆与污染源隔离(见图5. 12)。VLF罩将晶圆与室内空气隔离,并通过隧道将晶圆与过度人员暴露隔离。CMOS集成电路的出现增加r工艺步骤数并要求在净化间包含更多艺平台。

   这些更大的房问(和隧道)给他们带来f由于空气总量和操作者数量增加的潜在污染

热门点击

 

推荐技术资料

泰克新发布的DSA830
   泰克新发布的DSA8300在一台仪器中同时实现时域和频域分析,DS... [详细]
版权所有:51dzw.COM
深圳服务热线:13751165337  13692101218
粤ICP备09112631号-6(miitbeian.gov.cn)
公网安备44030402000607
深圳市碧威特网络技术有限公司
付款方式


 复制成功!