在图7 - 14(a)中， AD518SH/883B从光源发出的光被分束镜1分为两路，一路通过分束镜经玻璃气室5到达角锥反射镜4，经4反射后回到分束镜，形成参考光束。另一路由分束镜反射后经反射镜2，通过气体采样室达到角锥反射镜3，经3反射后回到分束镜1，形成测量光束。测量光束与参考光束合成干涉后，由两路光电检测器A、B接收相相位差n/2的两路干涉信号。在测量系统结构设计上，使干涉仪的参考臂和测量臂的光程一致，即需使用玻璃材料以及厚度均相等的两个气室，两路光程相等。测量时，慢慢抽出参考气室中的空气，而测量气室中保持被测的空气，这时由光电检测器可以探测到两路干涉条纹移动信号，直到参考室被抽成真空时，通过对 干涉条纹的计数，就可以获得测量室中空气折射率的测量结果。如果设干涉条纹的移动数为Ⅳ，玻璃气室的长度，n为抽气前气室内空气折射率，即被测的空气折射率；Ao为光在真空中的波长。

   为提高测量折射率的精度，一般需对干涉信号进行细分倍频的电路处理，同时还可增大气室长度。图7 - 14(b)是一种改进结构，宅是在测量光路和参考光路中分别加一平面反射镜7和8，使光路通过气体的光程增加一倍，起到了光学二倍频的作用。因此，在要求同等精度时，气室的长度可比图7 - 14(a)中的结构缩短一半。