- 导电橡胶衬垫:在硅橡胶内填充金属颗粒或金属丝2019/2/7 21:21:46 2019/2/7 21:21:46
- 导电橡胶衬垫:在硅橡胶内填充金属颗粒或金属丝,构成导电的弹性物。LM4040AEM3-3.0-T由于导电橡胶中的导电颗粒之间的容抗在高频时会降低,因此,填充金属颗在高频时屏蔽效能较高。如果填充方...[全文]
- 比较器必须具有迟滞特性(正反馈),2019/2/3 15:57:20 2019/2/3 15:57:20
- 比较器必须具有迟滞特性(正反馈),以防止因为噪声和干扰而使输出产生误动作,M5M4V64S40ATP还可防止靠近切换点处的振荡。不要使用输出转换率比实际需要快得多的运算放大器和比较...[全文]
- 芯片依工艺要求,需有一定之厚度2019/2/1 10:58:24 2019/2/1 10:58:24
- 芯片依工艺要求,需有一定之厚度。应用研磨的方法,达到减薄的目标。研磨的第一步KA348为粗磨,目的为减薄芯片厚度到目标值(一般研磨后的厚度为250~300um,随着芯片应用及封装方式的不同会不一...[全文]
- 容量变化规律2019/1/24 19:18:50 2019/1/24 19:18:50
- 容量变化规律变容二极管加反向电压时可以相当于电容器,当反向电压改变时,其容量就会发生变化。HA7352NE下面以图⒍21所示的电路和曲线来说明变容二极管容量调节规律c...[全文]
- 伏安特性曲线2019/1/24 16:06:29 2019/1/24 16:06:29
- 在电子工程技术中,常采用HCF4069UM013TR伏安特性曲线来说明元器件的性质。伏安特性曲线又称电压电流特性曲线,它用来说明元器件两端电压与通过电流的变化规律。二极管的伏安特性曲线用来说明加...[全文]
- 用指针万用表检测电感器2019/1/23 20:09:12 2019/1/23 20:09:12
- 用指针万用表检测电感器PIC16F886-I/SS电感器的电感量和Q值一般用专门的电感测量仪和Q表来测量,一些功能齐全的万用表也具有电感量测量功能。电感器常见的故障有...[全文]
- 数字万用表的使用 2019/1/21 22:17:02 2019/1/21 22:17:02
- 数字万用表的使用数字万用表与指针万用表相比,具有测量准确度高、测量速度快、输入阻抗大、过载A5191HRTLG-XTD能力强和功能多等优点,所以它与指针万用表一样,在电工电子技术测...[全文]
- “CE”标志是一种认证标志2019/1/20 17:31:22 2019/1/20 17:31:22
- “CE”标志是一种认证标志,被视为制造商打开并进人欧洲市场的护照:凡是贴有“CE”标志的产品就可在欧盟各成员国内销售,无须符合每个成员国的要求,K22X-E9P-N从而实现了商品在欧盟成员国范围...[全文]
- 本测试应按ISO 1I452-9要求的步骤进行具体说明如下2019/1/18 19:46:38 2019/1/18 19:46:38
- 本测试应按ISO1I452-9要求的步骤进行具体说明如下:●天线到DUT的测试距离及天线的位置、步进、测试正对表面与线束位置的选取方法等信息应记录在EMC测试计戈刂中;M1MA14...[全文]
- 苦DUT有网络通信功能(如J185o、CAX、HX),应模拟实车条件下的网络通信2019/1/18 19:15:37 2019/1/18 19:15:37
- 测试应按以下步骡进行:KDZTR12B(1)确定DUT是完全正常的:苦DUT有网络通信功能(如J185o、CAX、HX),应模拟实车条件下的网络通信:具体的网络通信报文、总线利用率...[全文]
- 汽车电子、电气零部件的EMC测试 2019/1/17 20:41:03 2019/1/17 20:41:03
- 汽车电子、电气零部件的EMC测试JQ1aP-5V-F对于汽车电子、电气零部件EMC测试标准,同样有⒖0114犯、CIsPR乃、I~sO%39、SAEJ1I13等,这些标准同样对汽车...[全文]
- 电压跌落、短时中断和电压渐变的抗扰度测试目的2019/1/17 20:34:12 2019/1/17 20:34:12
- 电压跌落、短时中断和电压渐变的抗扰度测试目的电压跌落、短时中断是由电网、变电设施的故障或负荷突然出现大的变化所引起的。在某些JQ1a-5V-F情况下会出现两次或更多次连续的跌落或中...[全文]
- 辐射电磁场抗扰度测试方法2019/1/17 20:19:24 2019/1/17 20:19:24
- 辐射电磁场抗扰度测试方法JM1aN-TMP-DC24V测试时要用1kHz正弦波进行幅度调制,调制深度为⒛%,调制)。将来有可能再增加一项键控调频(欧共体标准已采用)`参见图B9(在...[全文]
- 立式被测设备的布置2019/1/16 20:26:37 2019/1/16 20:26:37
- 立式被测设备的布置如图B.3所示,具体要求如下:(1)机柜之间的I/O互连线应该自然放置,如果过长能够扎成sO~40cm的线束,就一定要扎;HCF4040M013TR...[全文]
- 晶振为什么不能放置在PCB边缘2019/1/15 20:38:40 2019/1/15 20:38:40
- 晶振为什么不能放置在PCB边缘【现象描述】ILC5061ALC31X某塑料外壳产品,带一根I/0电缆,在进行船运EMC标准规定的辐射发射测试时发现辐射超标,具体频点是...[全文]
- 在数/模混合电路的分界区域增加PCB工作地与金属外壳的互连点2019/1/15 20:26:40 2019/1/15 20:26:40
- 从以上分析可知,在数/模混合电路的分界区域增加PCB工作地与金属外壳的互连点。IDT79R3041-20J另外,在本案例产品的情况下,断开模拟侧PCB工作地与金属外壳的互连也会对解...[全文]
- 模拟电路区域存在I/0电缆2019/1/15 20:21:02 2019/1/15 20:21:02
- 模拟电路区域存在I/0电缆,yo电缆与参考接地板或金属外壳之间形成较低的阻抗(如150Ω),如图6.95所示。IDT74FCT3244AQ图6.95模拟电路区域存在I...[全文]
- 晶振内部电路产生RF电流2019/1/13 20:11:51 2019/1/13 20:11:51
- 晶振是一个辐射发射源。晶振内部电路产生RF电流,封装内部产生的RF电流可能很大,KA324ADTF以至于晶体的地引脚不能以很少的损耗充分地将这个很大的Ldj/d扌电流引到地平面,结果金属外壳变成...[全文]
- 用金属镊子短路一下CPU的复位信号2019/1/12 21:08:01 2019/1/12 21:08:01
- 做以下试验:LM4040BIM3-2.5+T(1)在如图6.13所示的PCB图中的A处加一个0.01uF的去耦电容,重新试验,还是复位。于是在A处将信号断开,在CPU处直接上拉。上...[全文]
- 高速时钟驱动芯片的负载通常较重2019/1/10 21:48:37 2019/1/10 21:48:37
- 在PCB图中,芯片的下面是一块电源平面,在电源平面的左边和右边分别接了0.1uF的去耦电容和10uF的滤波电容,然后经过磁珠FB5送到芯片的电源引脚Ⅴcc,分别是芯片的4、8、15脚和⒛脚。...[全文]
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