- 虽然没有改变球径仪的仪器精度2015/5/29 20:56:17 2015/5/29 20:56:17
- 虽然没有改变球径仪的仪器精度，KIA78R05PI-U/G但测量精度却大不相同，测量误差竟增大4倍之多，这主要是由于球径仪在测量方法上的特点所造成的。虽然各个测环的U，相等，但由于被测透镜的口径...[全文]
- 仪器精度和测量精度的关系2015/5/29 20:54:35 2015/5/29 20:54:35
- 测量精度是与仪器精度、测量条78R05PI件的影响、测量方法的影响、测量者的主观影响及与被测对象有关的综合精度。一般说来，仪器精度越高，则测量精度也越高，即高精度的测量必须使用高精...[全文]
- 总体精度分析的目的和任务2015/5/28 21:56:58 2015/5/28 21:56:58
- 由于精度已成为精密加工设备、精密测MAX1232ESA量仪器和其他精密装备的最重要的技术指标之一，因此，对产品进行整机的总体精度分析是保证产品质量的一项必不可少的技术分析工作。...[全文]
- 等作用原则的误差分配法2015/5/28 21:54:42 2015/5/28 21:54:42
- 等作用原则的误差分配法，没有考MAX1232CWE虑各零部件的实际情况，从而造成有的公差偏大，有的偏小，很不经济。通常是在调研制造行业实际工艺水平和使用技术水平的基础上定出三方面的公差评定等级，...[全文]
- 误差的分配方法2015/5/28 21:53:21 2015/5/28 21:53:21
- 仪器总误差包括总系统误差和总随机误差。由乎误MAX1232CSA差性质不同，其分配方法也各异。总系统误差系统误差影响较大而数目较少。当系统误差是某一变量的函数时，则可...[全文]
- 仪器精度设计与误差分配2015/5/28 21:51:49 2015/5/28 21:51:49
- 仪器精度设计包括两方面：一方面要研究与分配已知仪器允许的总误差，MAX1232CPAY将其经济、合理地分配到零部件上，并制定各零部件的公差和技术要求；另一方面需要设法用“误差补偿”方法去...[全文]
- 设计工作所需的理论基础和手段有了很大进步2015/5/26 20:17:22 2015/5/26 20:17:22
- 近30年来，由于科AP1084DL-13学和技术迅速发展，对客观世界的认识不断深入，设计工作所需的理论基础和手段有了很大进步，特别是电子计算机技术的发展及应用，对设计工作产生了革命性的变革，为设...[全文]
- 仪器是传递和转换信息的工具2015/5/26 20:13:15 2015/5/26 20:13:15
- 仪器是传递和转换信息的工具，它是各类仪器仪表、传感器及观察、监控、测试、AP1084D18G-13分析设备的总称。随着科学技术的进步，仪器对于人们的生产、生活以及高尖技术的发展，显得愈发重要。据...[全文]
- 仪器结构要求及参数的确定2015/5/26 20:06:15 2015/5/26 20:06:15
- 由于该夜视仪是用于单兵头盔上的微光夜视成像系统，因此，要求该夜视仪通过头盔支架与单兵头盔可靠连接，AP09N70P夜视仪系统内部定位精度准确，并具有体积小、重量轻等特点。(1)调焦...[全文]
- 目镜系统参数的确定2015/5/26 19:51:00 2015/5/26 19:51:00
- 目镜的作用是放大像增强器荧光屏上的目标像。在微光夜视仪器的光学设计中，AP04N70F需要确定目镜的一些主要参数，如目镜焦距、目镜出瞳直径等。这些参数选择是否得当，不仅影响夜视仪的体积、重量、倍...[全文]
- 工作距离及焦距的确定2015/5/25 20:33:46 2015/5/25 20:33:46
- 对于观察表面微观几何形状用的显微镜，其物镜M24256-BRMN6TP的数值孔径与总放大率的关系一般为500NA<厂<1000NA(2-69)取较大的放大...[全文]
- 一个后表面反射式凹面反射镜2015/5/24 17:10:12 2015/5/24 17:10:12
- 图2-50表示一个后表面反射式凹面反射镜，其作HD74HC05P就是对远距离物体形成一个正常的图像或者主像，由于将被后表面反射镜反射的光线必须通过反射镜的前（折射）表面才能达到反射面，所以，前表...[全文]
- 误差补偿原理2015/5/24 16:59:24 2015/5/24 16:59:24
- 误差补偿原理是仪器设计中应用广泛而意义重大的设计原理。任何仪器的零部件，HCF4052BE都存在着加工误差和装配误差，这些系统误差可以通过校正机构加以校正，使仪器总体精度获得提高；也可以设置检测...[全文]
- 光学自适应原则2015/5/23 21:19:02 2015/5/23 21:19:02
- 光学系统，FDMA507PZ特别是大型光学系统，常由于受动态干扰而大大降低系统的性能。例如，口径达几米的大型望远镜通过大气进行观察时，因受限于大气湍流，其分辨率并不比0.Im~0.2m的望远镜高...[全文]
- 符合基面统一原则的零件测量2015/5/23 21:16:48 2015/5/23 21:16:48
- 例如，图2-37所示的零件，两个直FDG6323L径d，及d2的设计基面及工艺基面均为中心线O。在测量时，若用顶尖顶持进行（图2-37），则测量基准和设计基准、工艺基准重合，此时能真实地反映d：...[全文]
- 基面统一原则2015/5/23 21:15:03 2015/5/23 21:15:03
- 以上几条原则，FDG6320C一般都是从仪器总体出发考虑的。而基面统一原则，则主要是针对仪器中的零件设计及部件装配要求来说的。这条原则是指：在设计零件时，应该使零件的设计基面、工艺基面和测量基面...[全文]
- 测量链最短原则2015/5/23 21:13:25 2015/5/23 21:13:25
- 测量链最短原则是指仪器中构成测量链环节的零件数目应最少，即测量链最短。FDC37N958FR仪器的总体布局尽量采用测量链最短原则。仪器的测量链包括主测量链和辅助测量链，主测量链是由...[全文]
- 提高仪器精度的技术措施2015/5/23 20:41:41 2015/5/23 20:41:41
- 在光电仪器的总体设计中，F25L016A-50PAG很重要的一个方面是要求考虑各种谩计原则在设计中应如何应用，以及应采取何种措施。可以说正确掌握这些原则和措施，将有助于所设计的仪器达到需要的技术...[全文]
- 这就是双频干涉测长装置的测量公式2015/5/22 18:12:51 2015/5/22 18:12:51
- 这就是双频干涉测长装置的测量公式。该系EP1C4F324C8N统的优点在于整个系统中的信号是在固定频率偏差f2-fi的状态下工作的，这就克服了常规干涉仪中采用直流零频系统所固有的通道耦合复杂、长...[全文]
公网安备44030402000607
