晶体管损坏的一般原因

    ①电路中的电压、电流、输出功率过载引起损坏。TS5A23157DGSRR在晶体管电路中主要与集电极一发射极间的电压VCE.集电极一基极间的电压VCB及晶体管固有的特性参数（如VCBO. VCEO./CBO. /CEO. PCM）及工作条件有关。如果电路中晶体管的集电极电压VCEO超过了最大值，就会造成晶体管损坏。

    ②热损坏。在晶体管手册中一般所指的最大电压，通常是常温(25℃)下的值。因此，在环境温度较高或在最高结温下使用时，晶体管工作的实际最大电压将小于常温时的值。温度过高时，晶体管的/CBO和/EBO会增加，造成结温上升，而结温升高又会使/CBO和/EBO更进一步增大而形成雪崩现象，结果热击穿而损坏。

    ③二次击穿引起的损坏。在晶体管电路中，当集电极电压升高时首先会出现一次击穿，使尼急剧增加。当其电压增加到某一临界值后，C、E极压降会突然降低，形成很大的过电流，造成二次击穿而损坏。

    ④外界环境变化引起的损坏。外界环境变化是指机械振动、外力冲击、潮湿、化学物品的侵蚀等外界因素造成的损坏。