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温度特性与散热

发布时间:2013/5/27 20:17:53 访问次数:873

    半导体器件的共同缺点是E6C2-AB5C其特性参数受温度影响大,除了前述若干特性随着温度升高而变差外,由于温度升高将使Ue。。升高,L也将增大,输出功率下降,最大允许功耗和二次击穿触发功率均要下降,结果使电力晶体管GTR的安全工作区面积缩小。必须采取有效散热措施,选配适当的散热器,裉据容量等级采用自然冷却、风冷或沸腾冷却方式,确保GTR不超过规定的结温最大值。
    热损坏由结温过高所致,结温升高由发热引起,发热量则由功耗转变而来。因此,若能从根本上减小GTR的功耗就可确保其安全可靠地工作。在高频大功率开关条件下工作的GTR,其功耗由静态导通功耗、动态开关损耗和基极驱动功耗三部分组成。设法降低导通电压、采用各种缓冲电路改变GTR的开关轨迹等均可达到减小GTR功耗的目的。
   恒流驱动电路
  “恒流驱动”是指GTR的基极电流保持恒定,不随集电极电流变化而变化。为了保证GTR在任何负载情况下都能处于饱和导通,所需的基极电流厶应按GTR最大可能通过的集电极电流。
    所以,恒流驱动使空载或空载时饱和深度加剧,存储时间大。为了克服上述弊端常采用其他
辅助措施,并由此演绎出两种不同类型。
    (1)抗饱和电路。
    抗饱和电路亦称贝克钳位电路,其基本形式如图7-9所示,其目的是将多余的基极电流从集电极引出,使GTR在不同集电极电流情况下都处于准饱和状态,使集电结处于零偏置或轻微正向偏置的状态。图中VD1、VD2为抗饱和二极管,VD3为反向基流提供回路。轻载时,当GTR饱和深度加剧而使Ue。减小时,A点电位高于集电极电位,VD2导通,将《分流,使流过二极管VD1的基极电流厶减小,从而减小了GTR昀饱和深度。
    抗饱和电路可以缩短存储时间,使在不同负载情况下及使用离散性较大的GTR时存储时间趋向一致,但需增加二个二极管,钳位二极管VD2必须是快速恢复二极管且其耐压必须和GTR的耐压相当。由于电路工作于准饱和状态正向压降增加,增大了导通损耗。
    半导体器件的共同缺点是E6C2-AB5C其特性参数受温度影响大,除了前述若干特性随着温度升高而变差外,由于温度升高将使Ue。。升高,L也将增大,输出功率下降,最大允许功耗和二次击穿触发功率均要下降,结果使电力晶体管GTR的安全工作区面积缩小。必须采取有效散热措施,选配适当的散热器,裉据容量等级采用自然冷却、风冷或沸腾冷却方式,确保GTR不超过规定的结温最大值。
    热损坏由结温过高所致,结温升高由发热引起,发热量则由功耗转变而来。因此,若能从根本上减小GTR的功耗就可确保其安全可靠地工作。在高频大功率开关条件下工作的GTR,其功耗由静态导通功耗、动态开关损耗和基极驱动功耗三部分组成。设法降低导通电压、采用各种缓冲电路改变GTR的开关轨迹等均可达到减小GTR功耗的目的。
   恒流驱动电路
  “恒流驱动”是指GTR的基极电流保持恒定,不随集电极电流变化而变化。为了保证GTR在任何负载情况下都能处于饱和导通,所需的基极电流厶应按GTR最大可能通过的集电极电流。
    所以,恒流驱动使空载或空载时饱和深度加剧,存储时间大。为了克服上述弊端常采用其他
辅助措施,并由此演绎出两种不同类型。
    (1)抗饱和电路。
    抗饱和电路亦称贝克钳位电路,其基本形式如图7-9所示,其目的是将多余的基极电流从集电极引出,使GTR在不同集电极电流情况下都处于准饱和状态,使集电结处于零偏置或轻微正向偏置的状态。图中VD1、VD2为抗饱和二极管,VD3为反向基流提供回路。轻载时,当GTR饱和深度加剧而使Ue。减小时,A点电位高于集电极电位,VD2导通,将《分流,使流过二极管VD1的基极电流厶减小,从而减小了GTR昀饱和深度。
    抗饱和电路可以缩短存储时间,使在不同负载情况下及使用离散性较大的GTR时存储时间趋向一致,但需增加二个二极管,钳位二极管VD2必须是快速恢复二极管且其耐压必须和GTR的耐压相当。由于电路工作于准饱和状态正向压降增加,增大了导通损耗。
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