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失效率试验

发布时间:2012/4/18 19:52:28 访问次数:865

    对确立可靠性指标的电子元件,为了验证产品SGM2007-1.8XN5/TR是否低于某规定的失效率等级须进行失效率试验,即在所要求的置信度下验证产品是否符合所要求的失效率等级。进行失效率试验时应规定如下项目:
    ·试验内容与试验条件。
    ·测试项目、测试条件(包括测试环境)及测试周期。
    ·失效标准。
    ·置信度。
    ·试验时间及所需的样品数。
    ·加速试验的加速条件与加速系数。
     失效率试验所用试验样品,必须从经过产品技术规范规定的筛选后的合格产品批中随机抽取。失效率试验应在产品技术规范规定的额定条件或加速条件下进行。对于失效率等级为六级和低于六级的试验,额定条件下的元件小时数应不少于总元件小时数的1/3;对于高于六级的试验,额定条件下的元件小时数应不少于总元件小时数的1/10。  
    实际上,在进行各项可靠性评价试验中都要以监视失效模式为主要内容,找出结构、材料、工艺方面的缺陷,针对薄弱环节采取措施达到提高产品可靠性的目的。
    对确立可靠性指标的电子元件,为了验证产品SGM2007-1.8XN5/TR是否低于某规定的失效率等级须进行失效率试验,即在所要求的置信度下验证产品是否符合所要求的失效率等级。进行失效率试验时应规定如下项目:
    ·试验内容与试验条件。
    ·测试项目、测试条件(包括测试环境)及测试周期。
    ·失效标准。
    ·置信度。
    ·试验时间及所需的样品数。
    ·加速试验的加速条件与加速系数。
     失效率试验所用试验样品,必须从经过产品技术规范规定的筛选后的合格产品批中随机抽取。失效率试验应在产品技术规范规定的额定条件或加速条件下进行。对于失效率等级为六级和低于六级的试验,额定条件下的元件小时数应不少于总元件小时数的1/3;对于高于六级的试验,额定条件下的元件小时数应不少于总元件小时数的1/10。  
    实际上,在进行各项可靠性评价试验中都要以监视失效模式为主要内容,找出结构、材料、工艺方面的缺陷,针对薄弱环节采取措施达到提高产品可靠性的目的。
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4-18失效率试验

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