设计可靠性评价试验时的注意事项
发布时间:2012/4/19 19:05:29 访问次数:723
无论进行何种可靠性评价试验,必须要清楚和注意以下几方面:
①进行试验的目的。
②该类产品的用途、将在什么XC4VLX60-10FFG1148I环境和工作条件下使用。
③该类产品的预期失效模式和机理是什么,选择什么样的试验项目是合适的。
④用户(市场)希望的可靠性水平(最大失效率)是多少。
⑤产品的预期寿命为多少。
⑥试验应力(温度、温度和湿度、施加电压、温度循环、电流密度等)如何选取,最高、最低应力水平及间隔。
⑦确定样品数量、试验时间、测量周期、失效判据。
⑧试验数据的整理、分析。
⑨试验结果对评价产品的可靠性是否有用,是否达到了预期目的。
⑩将试验结果反馈到产品设计和加工中去,为改进产品提供依据。
由于不同的可靠性评价试验方案不同,各个可靠性评价试验又涉及诸多方面,有关试验设计,包括试验设备的选择、试验程序、试验方法和应力酌确定,以及试验结果的分析等详细内容请参见本书相应类别产品的章节,或参见参考文献[8]。
现场试用
在研制后期进行小批量试产的同时,应投入少量的样品提供给用户进行现场使用试验,以进一步考核或验证产品的实际可靠性寿命特征,暴露产品的设计缺陷和工艺缺陷,为设计、制造出真正高可靠性水平的元器件提供依据。
①进行试验的目的。
②该类产品的用途、将在什么XC4VLX60-10FFG1148I环境和工作条件下使用。
③该类产品的预期失效模式和机理是什么,选择什么样的试验项目是合适的。
④用户(市场)希望的可靠性水平(最大失效率)是多少。
⑤产品的预期寿命为多少。
⑥试验应力(温度、温度和湿度、施加电压、温度循环、电流密度等)如何选取,最高、最低应力水平及间隔。
⑦确定样品数量、试验时间、测量周期、失效判据。
⑧试验数据的整理、分析。
⑨试验结果对评价产品的可靠性是否有用,是否达到了预期目的。
⑩将试验结果反馈到产品设计和加工中去,为改进产品提供依据。
由于不同的可靠性评价试验方案不同,各个可靠性评价试验又涉及诸多方面,有关试验设计,包括试验设备的选择、试验程序、试验方法和应力酌确定,以及试验结果的分析等详细内容请参见本书相应类别产品的章节,或参见参考文献[8]。
现场试用
在研制后期进行小批量试产的同时,应投入少量的样品提供给用户进行现场使用试验,以进一步考核或验证产品的实际可靠性寿命特征,暴露产品的设计缺陷和工艺缺陷,为设计、制造出真正高可靠性水平的元器件提供依据。
无论进行何种可靠性评价试验,必须要清楚和注意以下几方面:
①进行试验的目的。
②该类产品的用途、将在什么XC4VLX60-10FFG1148I环境和工作条件下使用。
③该类产品的预期失效模式和机理是什么,选择什么样的试验项目是合适的。
④用户(市场)希望的可靠性水平(最大失效率)是多少。
⑤产品的预期寿命为多少。
⑥试验应力(温度、温度和湿度、施加电压、温度循环、电流密度等)如何选取,最高、最低应力水平及间隔。
⑦确定样品数量、试验时间、测量周期、失效判据。
⑧试验数据的整理、分析。
⑨试验结果对评价产品的可靠性是否有用,是否达到了预期目的。
⑩将试验结果反馈到产品设计和加工中去,为改进产品提供依据。
由于不同的可靠性评价试验方案不同,各个可靠性评价试验又涉及诸多方面,有关试验设计,包括试验设备的选择、试验程序、试验方法和应力酌确定,以及试验结果的分析等详细内容请参见本书相应类别产品的章节,或参见参考文献[8]。
现场试用
在研制后期进行小批量试产的同时,应投入少量的样品提供给用户进行现场使用试验,以进一步考核或验证产品的实际可靠性寿命特征,暴露产品的设计缺陷和工艺缺陷,为设计、制造出真正高可靠性水平的元器件提供依据。
①进行试验的目的。
②该类产品的用途、将在什么XC4VLX60-10FFG1148I环境和工作条件下使用。
③该类产品的预期失效模式和机理是什么,选择什么样的试验项目是合适的。
④用户(市场)希望的可靠性水平(最大失效率)是多少。
⑤产品的预期寿命为多少。
⑥试验应力(温度、温度和湿度、施加电压、温度循环、电流密度等)如何选取,最高、最低应力水平及间隔。
⑦确定样品数量、试验时间、测量周期、失效判据。
⑧试验数据的整理、分析。
⑨试验结果对评价产品的可靠性是否有用,是否达到了预期目的。
⑩将试验结果反馈到产品设计和加工中去,为改进产品提供依据。
由于不同的可靠性评价试验方案不同,各个可靠性评价试验又涉及诸多方面,有关试验设计,包括试验设备的选择、试验程序、试验方法和应力酌确定,以及试验结果的分析等详细内容请参见本书相应类别产品的章节,或参见参考文献[8]。
现场试用
在研制后期进行小批量试产的同时,应投入少量的样品提供给用户进行现场使用试验,以进一步考核或验证产品的实际可靠性寿命特征,暴露产品的设计缺陷和工艺缺陷,为设计、制造出真正高可靠性水平的元器件提供依据。
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