输入高低电平的测试

   TTL和CMOS是数字电路中最常用的两种逻辑电平,LVTTL和LVCMOs分别是TTL和CMOs的低电平版本,H772SJ-P其他的电平大多衍生自TTL和CMOs电平。TTL是晶体管逻辑,晶体管是流控器件,且输入电阻较小,因此,TTL电平器件相对速度快,但功耗大。CMOs是MOS管逻辑,MOs管是压控器件,且其输入电阻大,相比而言,CMOs电平器件的速度较慢,但功耗较小。由于电压信号更易受外界噪声干扰,同时由于CMOs器件的输入阻抗很大,外界的干扰可能会引起电平的翻转,因此,CMOs器件的输入端应有确定的状态,使用中,输出脚应进行上下拉处理,不能浮空。测试时,测试系统应明确各输入脚的信号,使器件处于确定的状态。常见电平如图⒋3所示。

   输入高低电平的测试分为两种。一种是验证性的、符合性检查性质的测试方法,直接将最劣边界值设为/IL及/IH,由ATE进行功能测试,用于验证/IL及/IH处于规范最劣值时,器件是否能正常运行。若器件能正常运行,则说明器件符合规范规定的/IL及巧H的要求。此种测试方法只能得到器件是否符合规范的定性结论,得不到器件/IL和/IH的定量测试结果。可以用于生产筛选测试。其特点就是速度快,能与其他测试项(如功能测试)合并进行测试,节省时间和成本。

    另外一种测试方法需要结合ATE设备进行。它是通过不断地改变浒H及圻L然后运行功能向量,直到器件出现失效,失效处的购L及‰H值则是器件所能承受的最劣竹L及购H边界值。通过这种方法可以得到/lL及圻H的量化边界值。可以为设计和具体的工程应用提供量化指标。比较适合研发验证、性能摸底及产品鉴定测试中。其测试方法如图午4所示。

   图⒋4 输入高低电平扫描测试原理

   还有一种用于寻找“GOLDEN DEⅥCE”的测试方法,即西蒙图(血m00)。它以购L、圻H为纵(横)坐标,在一定的电压范围内,穷尽竹L与购H的组合,记录每一个组合的功能测试结果,将结果标记在二维图形上,即为西蒙图,如图45所示。图中浅色部分为圻L和圻H可以正常工作的区域。实际应用系统设计时,/IL和/IH应与深色区域保持一定距离,理论上离其越远,可靠性越高。