数字集成电路的参数测试方法H75N03U

   数字集成电路参数比较类似,但还是具有一定的差异。一般数字集成电路静态参数包括输入高低电平、输入高低漏电、输出高阻漏电、输出高低电平电压、静态电流等;动态参数包括输入输出电容、工作频率、工作电流等;开关参数包括传输延迟时间、高低电平(高阻)转换时间、建立保持时间等。

   连接性测试方法

  连接性测试主要是用于判断器件各引脚是否和ATE机台之间己经形成电气连接。其原理主要是通过ATE数字通道对被测器件的引脚施加一个电流,用于测量被测器件引脚上的钳位二极管压降。原理如图⒋2所示。

   图⒋2 连接性测试原理

   以流入器件的电流为正方向,流出器件为负。器件内部具有对地的保护二极管时,连接性测试电流应为负;从地上输入10∞叭电流,如果引脚连接良好,必然会在与引脚端相连接的通道上形成一个二极管压降,当测量连接性电压为超量程值时,则证明引脚没有连接好,是开路情况,如果二极管压降为接近0V,表明器件放置不太好,引脚与地搭接到一起,对地短路了。