测试设计验证标准

   近年来,我国集成电路产业链各环节中,以设计业的增长最为引人注目。 H7019NLT而且,集成电路设计业的行业规模和设计水平也有了大幅度提升,国内大量具有自主知识产权的产品研制成功并投向市场,标志着国内集成电路设计业的设计水平己经开始步入世界先进行列。集成电路设计业的兴旺带来大量的设计验证测试需求,每年设计出的大量芯片需要进行设计验证,而目前的标准主要都是针对产品的检测方法和程序的,产品设计验证的标准急需研究制定。集成电路测试是检测集成电路产品与预期的符合程度,是用于发现、验证和改进设计、生产、传递与使用过程中问题的一种手段。因实际工程目的不同,按照集成电路产品化过程,其测试一般有设计过程中的验证测试,产品定型与固化过程中的鉴定测试,产品供货过程中的筛选测试或量产测试等。不同应用行业、不同用户可能有不同或更细化的分类方法,如图4-1所示。

   无论集成电路测试如何分类,其测试内容都可分为功能测试与参数测试。功能测试主是借助测试向量用于验证器件的逻辑功能与结构,参数测试主要可以了解器件满足预期功能的程度。测试向量主要信息来源于设计方,一般而言,需要设计方的支持才能完成,越是功能复杂、逻辑复杂的器件越需要设计方支持。同时,功能测试也是逻辑器件的测试基础,通常功能有缺陷的器件,其参数测试没有实际意义。本节主要讨论集成电路参数测试方法。集成电路参数一般分为静态参数、动态参数、开关参数。数字集成电路是逻辑信号处理类器件,其参数比较类似,模拟和混合集咸电路因不同的门类一般具有不同的参数。