无标记方法

   这里讨论的方法直接利用检测杂交带来阻抗相关变化的基本思想已得到许多研究团队的研究,这些研究团队还发表了用于此目的有关的CMOS阵列芯片相关工作(例如本章参考文献[铝-笱]介绍)。基本思想如图6.24所示c在许多情况下,包含一 图6.24基于阻抗原理的DNA检测原理图个电容器并联一个电阻(其阻值在理想的情况下无限大)的简单的集总元件参数等效电路就足够了。有关该方法研究的各种可行性报道表明杂交化将导致电容减少。电容或整个阻抗可以通过一个贵金属电极和电解质之间的互相交叉电极进行测量,或者通过使用介质覆盖的电极进行测量。

     LL4148

   而大量的相关设计技术和电路拓扑结构是已知的,这为我们描述电容和阻抗的极好的准确性提供了便利,这种方法的缺点是正确结果的获得很大程度上取决于固定位置分子层的质量。如果这一层不足够致密,例如,与功能完好的电极区域相比,如果它有几个小孔,这些区域可能会提供一个显著降低的电极阻抗。因此,这些小孔可能或多或少地分流整个良好区域部分电极的信号,从而降低了该方法的可靠性。