RCdelay对器件运算速度的影响
发布时间:2017/10/21 12:40:33 访问次数:1995
R是连接导线的电阻,其中一些常见金属导体的电阻(单位uΩ・cm)如下:K4J52324KI-HC1A
W/Al合金的电阻是4;
Al合金的电阻是3;
Cu电阻是1.7。
C与绝缘体(insulator)的介电常数相关,列举一些常见绝缘材料的介电常数:
SiO2的介电常数是碴;
flu。rine s山∞n glass的介电常数是3.5;
black diamond的介电常数是3。
ρ是导线的电阻率;L是导线的长度;P是导线的宽度;T是导线厚度。
导线的宽度P与电阻成反比。随着晶体管尺寸不断缩小,电路也愈来愈密集,相应地会减小导线的宽度P,在一定程度上会增加R值。
R是连接导线的电阻,其中一些常见金属导体的电阻(单位uΩ・cm)如下:K4J52324KI-HC1A
W/Al合金的电阻是4;
Al合金的电阻是3;
Cu电阻是1.7。
C与绝缘体(insulator)的介电常数相关,列举一些常见绝缘材料的介电常数:
SiO2的介电常数是碴;
flu。rine s山∞n glass的介电常数是3.5;
black diamond的介电常数是3。
ρ是导线的电阻率;L是导线的长度;P是导线的宽度;T是导线厚度。
导线的宽度P与电阻成反比。随着晶体管尺寸不断缩小,电路也愈来愈密集,相应地会减小导线的宽度P,在一定程度上会增加R值。
上一篇：超低介电常数薄膜
上一篇：k为2.5的超低介电常数材料
相关技术资料- 10-21RCdelay对器件运算速度的影响
公网安备44030402000607
