环境温度对器件参数的影晌
发布时间:2016/7/1 22:34:04 访问次数:513
超大规模集成电路主要的失效机理和MOs器件的参数值都与环境温度有关,CAP003DG环境温度的变化范围越宽,对器件可靠性的影响就越大。对于需要工作在恶劣环境条件下的超大规模集成电路,设计时参数变化的幅值必须考虑。对CMOs工艺测试芯片,进行了不同环境温度条件下器件参数的测量。图9.21是r―/特性曲线与温度的关系。随着温度的上升,「/曲线的幅值下降,即漏极电流随温度的上升而下降。图9.”所示是器件的不同参数随环境温度的变化关系,随着环境温度的上升均呈现下降的趋势。
超大规模集成电路主要的失效机理和MOs器件的参数值都与环境温度有关,CAP003DG环境温度的变化范围越宽,对器件可靠性的影响就越大。对于需要工作在恶劣环境条件下的超大规模集成电路,设计时参数变化的幅值必须考虑。对CMOs工艺测试芯片,进行了不同环境温度条件下器件参数的测量。图9.21是r―/特性曲线与温度的关系。随着温度的上升,「/曲线的幅值下降,即漏极电流随温度的上升而下降。图9.”所示是器件的不同参数随环境温度的变化关系,随着环境温度的上升均呈现下降的趋势。
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