20世纪70年代可靠性步入成熟阶段，尽管美国出现严重的经济萧条，可靠性C0816X5R1A474KT工程作为减少寿命期费用的重要工具，仍然得到深入的发展，并日趋成熟。随着军用电子设备复杂性的迅速增长，电子设备的可靠性仍是美国防部所关切的问题。为此，由美国府部门、工业及学术界代表建立了“电子设备可靠性讨论会”，根据其对加强电子设备可靠性统一管理的建议，正式成立了“电子系统可靠性联合技术协调组”来执行会议提出的各项建议。该协调组的职能扩大到非电子设备，并改名为“可靠性、可用性及修性联合技术协调组”，作为集中统一的可靠性管理机构，负责组织、协调美国国防部范围的可靠性政策、标准、手册和重大研究课题，建立了全国性的数据交换网，加强了美国政府机构同工业部门之间的信息交流，制定了一整套较完善的方法和程序。这个阶段强调可靠性I程的整体保证，加强元器件控制，强调设计阶段的元器件降额使用和热设计，强调环境应力筛选以及综合的可靠性试验。在可靠性设计上，采用更严格、更符合实际及更为有效的设计方法。如发展了“失效物理”（可靠性物理学）、FME( C)A(Failure Mode  Effects  and  CriticalityAnalysis，故障模式、影响和危险度分析)、更严格的降额设计、综合热分析及设计技术等

为设计服务。由于MIL-STD-781A、B均按设备分级，与设备的实际使用不符，试验使用的环境条件也不是模拟设备使用时所处的综合环境条件。所以许多电子设备按MIL-STD-7 81B试验获得的MTBF与现场使用获得的MTBF相差悬殊（有的厂家把试验获得的

MTBF除以10或20）。为此，在1977年对MIL-STD-781B进行了较大的修改，颁发了MIL-STD-781C，其名称为“可靠性设计鉴定试验及产品验收试验（指数分布）”。781C将设备按使用现场分成六大类。要求环境试验条件应根据设备使用的环境情况和工作任务来确定，提出把按时间顺序变化的综合环境试验剖面施加在试件上，即采用后来出现的综合环境可靠性试验方法(CERT)。这解决了由于试验室中使用的环境试验条件对使用环境模拟不真实造成两者的MTBF值相差悬殊的问题，但其准确程度取决于综合环境试验条件的仿真程度。