在带时钟的数字系统中，ULN2003A不同的时间窗口对静电放电的敏感度是不相同的。这是由于在不同的时间周期内系统在执行不同的程序造成的。在这些程序当中也许只有个别程序对静电放电敏感。例如，一个计算机系统在某个时间窗口中可能从硬盘驱动器中读取数据，在另一时间窗口中可能在向外围设备发送数据或者执行一个运算程序。之后，计算机又可能在刷新显示器或往存储器中写人数据。

   因此，当进行静电放电试验时，对产品的静电放电试验应该进行足够长的时间，要覆盖被测设备(EUT)的所有工作模式。这意味着必须对被测设备的每一个测试点做大量盼放电试验．可能几百次甚至上千次。而且，静电放电千万不能与被测设备以任何方式同步，它们应该是随机的。

   另外，静电放电敏感度本身是一个统计过程。因此，为得到可重复的结果，测试标准应该有一个合理的统计基础。这也要求对被测设备进行很多次放电实验。而且，测试通过或失败的标准也应该是统计性的。即该产品经过指定次数的放电测试，出现了不超过百分之几的非破坏性错误。然而，现行标准使用的都是不允许失败的绝对标准。

   现行的商用静电放电测试标准都不考虑上述影响。例如，EN-61000-4-2仅仅要求对被测设备每个测试点做10次放电，不允许失败。这种做法的目的是简化测试过程，提高测试速度。然而，从统计学的角度或者从覆盖所有可能的时间窗口来讲，放电次数都是不够的。