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性能好坏的判别

发布时间:2013/3/30 20:11:05 访问次数:2225

    已知型号和引脚排列的JRC4558晶体三极管,可按下述方法来判断其性能好坏:
    (1)测量极间电阻。测量晶体三极管极间电阻时,万用表置于电阻挡。在不知管子极性的情况下,将万用表红表笔任意与一只引脚相碰,黑表笔接触其他两只引脚,如果测得的阻值较小,交换表笔后测量的阻值均很大,则说明被测管中的一个PN结是好的。反之,若测得阻值很大,交换表笔重新测试后阻值较小,也说明该晶体三极管中的一个PN结是好的。需指出的是,如果两次测得阻值均很大,则可能是被测PN结开路损坏或测量的是两个PN结,这是因为,正常晶体三极管的集电结与发射结之间的正、反向电阻值都较大。对于此类情况,应及时将其中一支表笔与晶体三极管的第三脚相碰,然后重复上述过程。在测试好第一个PN结后,将万用表红表笔接任意一只引脚,用黑表笔分别接触另外两个引脚,如果测得阻值较小,交换表笔后测得阻值很大,则说明被测管的第二个PN结也是正常的。一般来说,两个PN结的正、反向电阻值相差越大,说明此晶体三极管的性能越好。
    将万用表置于R xlk挡,按照如图3-46历示的红、黑表笔的六种不同接法进行测试。其中,发射结和集电结的正向电阻值比较低,其他四种接法测得的电阻值都很高,约为几百千欧至无穷大。但不管低阻还是高阻,硅材料晶体三极管的极间电阻要比锗材料晶体三极管的极间电阻大得多。
    (2)测量穿透电流/CEO。
     中、小功率晶体三极管的检测方法。通过用万用表测量晶体三极管e-c极之间的电阻,可间接估算出穿透电流的大小,具体检测方法如图3-47所示。将万用表置于Rxl00或Rxlk挡,以测量PNP型管为例,红表笔接集电极,黑表笔接发射极,所测阻值一般在lOOkfl,以上(此值越大越好)。如果指示的阻值很小或测试时万用表指针来回晃动,则说明被测管的L。。太大,管子的性能不稳定。测试NPN型管的测试方法与上述方法相同,只是表笔应反接。

         

    已知型号和引脚排列的JRC4558晶体三极管,可按下述方法来判断其性能好坏:
    (1)测量极间电阻。测量晶体三极管极间电阻时,万用表置于电阻挡。在不知管子极性的情况下,将万用表红表笔任意与一只引脚相碰,黑表笔接触其他两只引脚,如果测得的阻值较小,交换表笔后测量的阻值均很大,则说明被测管中的一个PN结是好的。反之,若测得阻值很大,交换表笔重新测试后阻值较小,也说明该晶体三极管中的一个PN结是好的。需指出的是,如果两次测得阻值均很大,则可能是被测PN结开路损坏或测量的是两个PN结,这是因为,正常晶体三极管的集电结与发射结之间的正、反向电阻值都较大。对于此类情况,应及时将其中一支表笔与晶体三极管的第三脚相碰,然后重复上述过程。在测试好第一个PN结后,将万用表红表笔接任意一只引脚,用黑表笔分别接触另外两个引脚,如果测得阻值较小,交换表笔后测得阻值很大,则说明被测管的第二个PN结也是正常的。一般来说,两个PN结的正、反向电阻值相差越大,说明此晶体三极管的性能越好。
    将万用表置于R xlk挡,按照如图3-46历示的红、黑表笔的六种不同接法进行测试。其中,发射结和集电结的正向电阻值比较低,其他四种接法测得的电阻值都很高,约为几百千欧至无穷大。但不管低阻还是高阻,硅材料晶体三极管的极间电阻要比锗材料晶体三极管的极间电阻大得多。
    (2)测量穿透电流/CEO。
     中、小功率晶体三极管的检测方法。通过用万用表测量晶体三极管e-c极之间的电阻,可间接估算出穿透电流的大小,具体检测方法如图3-47所示。将万用表置于Rxl00或Rxlk挡,以测量PNP型管为例,红表笔接集电极,黑表笔接发射极,所测阻值一般在lOOkfl,以上(此值越大越好)。如果指示的阻值很小或测试时万用表指针来回晃动,则说明被测管的L。。太大,管子的性能不稳定。测试NPN型管的测试方法与上述方法相同,只是表笔应反接。

         

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