电容器的失效模式和失效机理
发布时间:2012/5/3 19:26:01 访问次数:858
电容器常见的失效模式有击穿、开路、电SAF82526N参数退化（包括电客量变化、损耗角正切值增大、直流漏电流值增大等）、引线腐蚀（断裂）等。为能帮助读者了解产生电容器各种失效模式的原因，进行针对性的可靠性设计，在此对击穿、开路、电参数退化等失效模式的失效机理进行分析。
(1)击穿的主要失效机理
①介质中有疵点或缺陷，存在杂质或导电粒子。
②电介质的老化。
③离子迁移。
④电介质在制造过程中的机械损伤。
⑤在高温或低气压环境下极间边缘飞弧。
⑥在机械应力的作用下电介质瞬间短路。
(2)开路的主要失效机理
①因击穿引起电极和引出线相绝缘。
②工作电解质的干涸。
③工作电解质的冻结。
④引出线与电极接触不良。
⑤在机械应力作用下，工作电解质和电介质之间的瞬时开路。
(3)电参数退化的主要失效机理
①潮湿的影响。
②离子迁移。
③表面污染。
④自愈效应。
⑤电介质内部缺陷及介质老化或热分解。
⑥工作电解质的泄漏和变化。
⑦电极腐蚀。
⑧杂质和有害离子的影响。
⑨引线和电极接触电阻增大。
(1)击穿的主要失效机理
①介质中有疵点或缺陷，存在杂质或导电粒子。
②电介质的老化。
③离子迁移。
④电介质在制造过程中的机械损伤。
⑤在高温或低气压环境下极间边缘飞弧。
⑥在机械应力的作用下电介质瞬间短路。
(2)开路的主要失效机理
①因击穿引起电极和引出线相绝缘。
②工作电解质的干涸。
③工作电解质的冻结。
④引出线与电极接触不良。
⑤在机械应力作用下，工作电解质和电介质之间的瞬时开路。
(3)电参数退化的主要失效机理
①潮湿的影响。
②离子迁移。
③表面污染。
④自愈效应。
⑤电介质内部缺陷及介质老化或热分解。
⑥工作电解质的泄漏和变化。
⑦电极腐蚀。
⑧杂质和有害离子的影响。
⑨引线和电极接触电阻增大。
电容器常见的失效模式有击穿、开路、电SAF82526N参数退化（包括电客量变化、损耗角正切值增大、直流漏电流值增大等）、引线腐蚀（断裂）等。为能帮助读者了解产生电容器各种失效模式的原因，进行针对性的可靠性设计，在此对击穿、开路、电参数退化等失效模式的失效机理进行分析。
(1)击穿的主要失效机理
①介质中有疵点或缺陷，存在杂质或导电粒子。
②电介质的老化。
③离子迁移。
④电介质在制造过程中的机械损伤。
⑤在高温或低气压环境下极间边缘飞弧。
⑥在机械应力的作用下电介质瞬间短路。
(2)开路的主要失效机理
①因击穿引起电极和引出线相绝缘。
②工作电解质的干涸。
③工作电解质的冻结。
④引出线与电极接触不良。
⑤在机械应力作用下，工作电解质和电介质之间的瞬时开路。
(3)电参数退化的主要失效机理
①潮湿的影响。
②离子迁移。
③表面污染。
④自愈效应。
⑤电介质内部缺陷及介质老化或热分解。
⑥工作电解质的泄漏和变化。
⑦电极腐蚀。
⑧杂质和有害离子的影响。
⑨引线和电极接触电阻增大。
(1)击穿的主要失效机理
①介质中有疵点或缺陷，存在杂质或导电粒子。
②电介质的老化。
③离子迁移。
④电介质在制造过程中的机械损伤。
⑤在高温或低气压环境下极间边缘飞弧。
⑥在机械应力的作用下电介质瞬间短路。
(2)开路的主要失效机理
①因击穿引起电极和引出线相绝缘。
②工作电解质的干涸。
③工作电解质的冻结。
④引出线与电极接触不良。
⑤在机械应力作用下，工作电解质和电介质之间的瞬时开路。
(3)电参数退化的主要失效机理
①潮湿的影响。
②离子迁移。
③表面污染。
④自愈效应。
⑤电介质内部缺陷及介质老化或热分解。
⑥工作电解质的泄漏和变化。
⑦电极腐蚀。
⑧杂质和有害离子的影响。
⑨引线和电极接触电阻增大。
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