混合集成电路的主要失效模式
发布时间:2012/4/25 19:18:18 访问次数:860
混合集成电路的CY62256VNLL-70SNXIT失效模式可以分为以下几种：
①有源器件。
②引线键合。
③组装。
④基片。
⑤外壳及封装。
⑥沾污及多余物。
图3.4是美国罗姆航空发展中心收集的混合电路失效模式的分布数据，表明有源器件、引线键合和沾污是造成失效的主要原因。图3.5是某一混合集成电路厂家的统计数据（仅从设计、材料、管理、使用四方面给出了的失效统计数据），可供对比分析。
混合集成电路的CY62256VNLL-70SNXIT失效模式可以分为以下几种：
①有源器件。
②引线键合。
③组装。
④基片。
⑤外壳及封装。
⑥沾污及多余物。
图3.4是美国罗姆航空发展中心收集的混合电路失效模式的分布数据，表明有源器件、引线键合和沾污是造成失效的主要原因。图3.5是某一混合集成电路厂家的统计数据（仅从设计、材料、管理、使用四方面给出了的失效统计数据），可供对比分析。
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