位置:51电子网 » 技术资料 » IC/元器件

控制低气压失效的可靠性设计

发布时间:2012/4/20 19:38:51 访问次数:1089

    大气压可影响在海拔AO8804较高处使用的电子元器件,例如山区或航空航天上的应用。低压可导致电极间的电晕放电,也可降低封装的热辐射速率。
    与低气压有关的失效模式有三类:
    ①部分材料在低气压下发生几何变形或化学变化引起电子元器件失效。
    ②在低气压下电子元器件周围的热阻增大引起热失效。
    ③在低气压下由于电离作用电极间易形成离子导电通路或电极间的高压放电造成失效。
    通过材料选择附加热沉结构或扩大电位差的电极间的距离,减少电极间电压强度,降低器件内热阻等设计可以控制这些失效模式的发生。
    防误操作设计技术
    人机工程中的一个重要内容是解决误操作问题,电子元器件也存在误操作问题。在可靠性设计申应当有防误操作设计。电子元器件防误操作的主要目的是防止使用人员将电子元器件或电路引线的极性误接造成失效。在设计中一般采用三种方案:
    ①适当设计电子元器件内部结构和引线位置,以达到当极性误接时电子元器件不损坏的目的。
    ②引出电极从形状、位置方面给出明显标记,例如电解电容大多数都采用这种防误操作设计方案。
    ③外引线防误操作结构,即外引线的结构本身可以杜绝误操作,在大多数电子管的外管脚和部分接插件中需要采用这种设计。
    大气压可影响在海拔AO8804较高处使用的电子元器件,例如山区或航空航天上的应用。低压可导致电极间的电晕放电,也可降低封装的热辐射速率。
    与低气压有关的失效模式有三类:
    ①部分材料在低气压下发生几何变形或化学变化引起电子元器件失效。
    ②在低气压下电子元器件周围的热阻增大引起热失效。
    ③在低气压下由于电离作用电极间易形成离子导电通路或电极间的高压放电造成失效。
    通过材料选择附加热沉结构或扩大电位差的电极间的距离,减少电极间电压强度,降低器件内热阻等设计可以控制这些失效模式的发生。
    防误操作设计技术
    人机工程中的一个重要内容是解决误操作问题,电子元器件也存在误操作问题。在可靠性设计申应当有防误操作设计。电子元器件防误操作的主要目的是防止使用人员将电子元器件或电路引线的极性误接造成失效。在设计中一般采用三种方案:
    ①适当设计电子元器件内部结构和引线位置,以达到当极性误接时电子元器件不损坏的目的。
    ②引出电极从形状、位置方面给出明显标记,例如电解电容大多数都采用这种防误操作设计方案。
    ③外引线防误操作结构,即外引线的结构本身可以杜绝误操作,在大多数电子管的外管脚和部分接插件中需要采用这种设计。

热门点击

 

推荐技术资料

单片机版光立方的制作
    N视频: http://v.youku.comN_sh... [详细]
版权所有:51dzw.COM
深圳服务热线:13751165337  13692101218
粤ICP备09112631号-6(miitbeian.gov.cn)
公网安备44030402000607
深圳市碧威特网络技术有限公司
付款方式


 复制成功!