电子元器件、零部件的寿命、失效率SGM358YS/TR是与其承受的电应力紧密相关的，降低其承受的电应力可以提高其使用中的可靠性。对于发热的电子元器件，如电真空器件、半导体器件、集成块以及电阻器、电容器、变压器、扼流圈等类产品更是要考虑电应力的影响。

    图1. 11是额定温度为70℃金属膜电阻器的功率降额曲线图。从图中可看出，超过额定温度(70℃)时，必须降低额定功耗，如当温度为100℃时，所用的工作功率与额定功率之比为40%。反过来，当电应力较低时，温度应力又可适当升高。

    电应力对电子元器件失效率的影响程度是通过模型中的参数值大小来反映的，不同的参数值（参数值的获得可通过解模型方程）决定了基本失效率曲线的不同形状，即反映了电子元器件失效率随电应力和温度应力变化的快慢。对于同一
类别的电子元器件，尽管采用的是同一基本失效率模型，但由于模型参数值不同，所反映出的基本失效率曲线形状不同，即失效率随电应力和温度应力变化的快慢不同。例如，电阻器类别中的合成电阻器、金属膜电阻器、线绕电阻器、热敏电阻器、压敏电阻器等其模型参数各不同，其基本失效率水平不网，曲线形状不同。图1. 12是额定温度为70℃的金属膜电阻器的基本失效率随电应力和温度应力变化的曲线图‘．2]。从图中可看到，当电应力比（额定功耗比）为1（即100%）时、温度为70℃，电阻器的基本失效率为0.0024×l0-6／h，这个值和电应力比为0.7、温度为90℃时，或电应力比为0.3、温度为120℃时是同的。也就是说，工作电应力的升高或降低对产品的固有可靠性产生直接影响。
    由此可见，要降低电应力对电子元器件失效率的影响，除了用户单位降额使用电子元器件外，最主要的是电子元器件研制单位要采用耐电应力的设计措施，使电子元器件的失效率随电应力的变化速率减慢。