边界扫描测试技术主要用来解决芯片的测试问题。
    20世纪80年代后期，对电路板和芯片的测试出现了困难。以往，在生产过程中对电路板的检验是由人工或测试设备进行的，但随着集成电路密度的提高，集成电路的引脚也变得越来越密，测试变得很困难。例如，TQFP封装器件，管脚的间距仅有0.6mm，这样小的空间内几乎放不下一根探针。     DS8024-RJX
    同时，由于国际技术的交流和降低产品成本的需要，也要求为集成电路和电路板的测试制订统一的规范。
    边界扫描技术正是在这种背景下产生的，IEEE1149.1协议是由IEEE组织联合测试行动组(JTAG)在20世纪80年代提出的边界扫描测试技术标准，用来解决高密度引线器件和高密度电路板上的元件的测试问题。
    标准的边界扫描测试只需要四根信号线，能够对电路板上所有支持边界扫描的芯片内部逻辑和边界管脚进行测试。应用边界扫描技术能增强芯片、电路板甚至系统的可测试性。

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