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JTAG的软件流程

发布时间:2008/12/23 0:00:00 访问次数:480

  tap(测试访问端口)控制器是一个16状态的有限状态机,为jtag提供控制逻辑,控制进入jtag结构中各种寄存器内数据的扫描与操作。状态转移图如图所示,在tck同步时钟上升沿的tms引脚的逻辑电压来决定状态转移的过程。

  对于由tdi引脚输入到器件的扫描信号有2个状态变化路程:用于指令移入至指令寄存器,或用于数据移入至相应的数据寄存器(该数据寄存器由当前指令确定)。

  状态图中的每个状态都是tap控制器进行数据处理所需要的,这些处理包括给引脚施加激励信号、捕获输入数据、装载指令,以及边界扫描寄存器中数据的移入/移出。

  控制指令用于控制jtag接口的各种操作,控制指令包括公用指令和私有指令。最基本的公用指令包括:

  ●bypass:旁路片上系统逻辑指令,用于未被测试的芯片,即把tdi与tpo旁路(1个时钟延迟)。

  ●extest:片外电路测试指令,用于测试电路板上芯片之间的互连。如状态转移图中的引脚状态被捕获在capture-dr;并在shift-dr状态时,通过tdo引脚把寄存器中数据移出;同时新的数据通过tdi引脚输入。该数据在update-dr状态中用于边界扫描寄存器输出。

  图 tap(测试访问端口)控制器状态转移图

  ●idcode:读芯片id码指令,用于识别电路板上的芯片。此时,d寄存器在tdi与tdo引脚之间,在capture-dr状态中,芯片的idt复制到该寄存器,然后在shift-dr状态中移出。

  ●intest:片内测试指令,边界扫描寄存器位于tdi与tdo引脚之间,处理器核逻 辑输入和输出状态被该寄存器捕获和控制。

  欢迎转载,信息来自维库电子市场网(www.dzsc.com)



  tap(测试访问端口)控制器是一个16状态的有限状态机,为jtag提供控制逻辑,控制进入jtag结构中各种寄存器内数据的扫描与操作。状态转移图如图所示,在tck同步时钟上升沿的tms引脚的逻辑电压来决定状态转移的过程。

  对于由tdi引脚输入到器件的扫描信号有2个状态变化路程:用于指令移入至指令寄存器,或用于数据移入至相应的数据寄存器(该数据寄存器由当前指令确定)。

  状态图中的每个状态都是tap控制器进行数据处理所需要的,这些处理包括给引脚施加激励信号、捕获输入数据、装载指令,以及边界扫描寄存器中数据的移入/移出。

  控制指令用于控制jtag接口的各种操作,控制指令包括公用指令和私有指令。最基本的公用指令包括:

  ●bypass:旁路片上系统逻辑指令,用于未被测试的芯片,即把tdi与tpo旁路(1个时钟延迟)。

  ●extest:片外电路测试指令,用于测试电路板上芯片之间的互连。如状态转移图中的引脚状态被捕获在capture-dr;并在shift-dr状态时,通过tdo引脚把寄存器中数据移出;同时新的数据通过tdi引脚输入。该数据在update-dr状态中用于边界扫描寄存器输出。

  图 tap(测试访问端口)控制器状态转移图

  ●idcode:读芯片id码指令,用于识别电路板上的芯片。此时,d寄存器在tdi与tdo引脚之间,在capture-dr状态中,芯片的idt复制到该寄存器,然后在shift-dr状态中移出。

  ●intest:片内测试指令,边界扫描寄存器位于tdi与tdo引脚之间,处理器核逻 辑输入和输出状态被该寄存器捕获和控制。

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