半导体器件并联系统可靠性评估的经验Bayes方法
发布时间:2008/6/5 0:00:00 访问次数:350
半导体器件并联系统可靠性评估的经验bayes方法
师小琳1，段哲民1，师义民2
（1. 西北工业大学电子工程系，陕西西安 710072；2. 西北工业大学应用数学系，陕西 西安 710072）
摘要:为了提高机载开关电源中半导体器件并联系统可靠性评估的准确性，运用经验bayes法和经典的统计方法，研究了该系统的可靠性评估问题。分别给出了系统可靠性指标的经验bayes估计，极大似然估计。利用monte-carlo方法，对两种估计结果进行了比较，结果表明，经验bayes估计的最大绝对误差为0.07，它小于极大似然估计的最大绝对误差0.368
半导体器件并联系统可靠性评估的经验bayes方法
师小琳1，段哲民1，师义民2
（1. 西北工业大学电子工程系，陕西西安 710072；2. 西北工业大学应用数学系，陕西 西安 710072）
摘要:为了提高机载开关电源中半导体器件并联系统可靠性评估的准确性，运用经验bayes法和经典的统计方法，研究了该系统的可靠性评估问题。分别给出了系统可靠性指标的经验bayes估计，极大似然估计。利用monte-carlo方法，对两种估计结果进行了比较，结果表明，经验bayes估计的最大绝对误差为0.07，它小于极大似然估计的最大绝对误差0.368
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