Si875x器件通过使用标称10.3V、极低1mA输入电流和1.1ms响应时间来驱动FET门。

Teron 640是建立在光罩业界领先的Teron光罩检测平台之上，通过采用193纳米光源和双成像模式（结合了高分辨率检测和基于缺陷成像性识别的空中成像），Teron 640支持先进的光学光罩检测。

利用创新的双重成像技术，Teron 640检测系统为光罩厂提供了必要的灵敏度，对先进的光罩进行准确的品质检验。

Teron SL655检测系统采用全新的STARlightGold™技术，帮助集成电路制造商评估新光罩的质量，监测光罩退化，并检测对成品率至关重要的光罩缺陷。

通过将Teron 640和Teron SL655生成的大量数据与RDC的评估功能紧密结合，光罩厂和集成电路晶圆厂能够更高效地辨识光刻中显著的光罩缺陷，从而改善光罩的质量控制，并获得更好的产品图案成像。

增加输入电流到10mA可实现极快的94μs接通时间。独特的电源优化选项能够快速获得最大导通电流，然后一旦可选的外部电容放电时，静态保持电流最多可降低到最大导通电流的90%。

Si875x器件具有2.5kVrms隔离等级，能够在整个工业和汽车级温度范围(高达+125℃)进行操作，设计符合严格的UL、CSA、VDE、 CQC标准。

凭借独一无二的将功能强大、可靠的基于CMOS的隔离技术和通过隔离栅传输电源整合的创新能力，Silicon Labs的Si875x驱动器为陈旧的EMR和基于光耦的SSR提供了不可或缺的替代解决方案。