MTP存储器的数据保持能力测试及激活能计算引起的偏差
发布时间:2022/2/28 19:05:27 访问次数:1407
数据保持能力是衡量eNVM性能的重要指标,目前,对于验证NVM数据保持能力的方法,国内外已经有不少相关的研究或标准.
MTP存储器的数据保持能力不仅要求在高温条件下能够保持数据不丢失,而且要能够保持很长的时间,因而不仅要研究MTP存储器的可靠性,还要能够计算出MTP存储器的数据保持时间,这对合理拓宽MTP存储器温度应用范围及使用寿命有重要的现实意义。
对该存储器的存储单元架构设计、数据保持能力测试及激活能计算3个方面展开分析, 重点阐述了MTP存储器的数据保持能力测试及激活能计算。
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执行回路的温度偏差,执行回路的温度特性,执行回路温度变化引起的偏差.
总温度偏差ΔUT,调压系统的总温度偏差为△UT=△1TD+△Ⅳ+△um+△uc。这些温度偏差分量有正、有负,所以在一定程度上起到了补偿作用。当温度偏差超出所规定的要求时,必须采取温度补偿措施。
调压系统静态设计的目的是根据技术条件所规定的指标,计算系统中各环节的参数,以保证被调电压的静态准确度。定义a×100%为调压系统的调压准确度或调压精度,静态偏差△ucT是原理性偏差,技术条件中对它作出了规定确定调压系统的开环放.
数据保持能力是衡量eNVM性能的重要指标,目前,对于验证NVM数据保持能力的方法,国内外已经有不少相关的研究或标准.
MTP存储器的数据保持能力不仅要求在高温条件下能够保持数据不丢失,而且要能够保持很长的时间,因而不仅要研究MTP存储器的可靠性,还要能够计算出MTP存储器的数据保持时间,这对合理拓宽MTP存储器温度应用范围及使用寿命有重要的现实意义。
对该存储器的存储单元架构设计、数据保持能力测试及激活能计算3个方面展开分析, 重点阐述了MTP存储器的数据保持能力测试及激活能计算。
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